Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK II #68582 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK II est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes utilisé pour mesurer les caractéristiques critiques de la surface sur des dispositifs semi-conducteurs modernes tels que les FET nanométriques (transistors à effet de champ). Ce système utilise un microscope à force atomique avancé (AFM) pour obtenir une carte tridimensionnelle précise et détaillée d'une plaquette à résolution nanométrique. Cela aide à la construction et à l'essai de dispositifs semi-conducteurs en quelques étapes de diamètre de plaquette, fournissant ainsi des résultats de cartographie de surface supérieurs qui sont très précis, détaillés et reproductibles. L'unité VEECO DEKTAK II est également bien adaptée aux techniques de métrologie plus classiques telles que le stylet et la profilométrie optique, ainsi qu'aux options avancées comme la rugosité de surface, la sous-structure de surface, et plus encore. L'AFM avancé de la machine permet l'imagerie 3D et la recherche, qui est couplé à une option brevetée « flex-drive » qui rend l'outil extrêmement adaptable. L'actif peut facilement être configuré et optimisé pour un large éventail de mesures de topographie et de structure de surface, y compris celles pour lesquelles des ensembles de données limités ou de nouveaux types de plaquettes sont disponibles. Le modèle fournit également l'un des niveaux les plus élevés de fonctionnement automatisé disponible, réduisant considérablement la prise de décision manuelle en permettant aux utilisateurs de prendre des décisions de collecte de données basées uniquement sur les données collectées par l'équipement. Cela minimise les erreurs humaines, raccourcit les cycles de test et diminue le temps et l'argent dépensé pendant les tests de wafer. En outre, le système est assez puissant pour gérer plusieurs tailles de plaquettes, de 1 pouce à 8 pouces de diamètre, et comprend une suite d'acquisition de données qui intègre des fonctionnalités telles que l'acquisition multi-images, ainsi que la métrologie statistique. Dans l'ensemble, SLOAN DEKTAK II est une unité fiable et fiable d'essais de plaquettes et de métrologie conçue pour répondre à toutes les attentes de précision, de résolution et de vitesse. Avec sa large gamme de fonctions automatisées, sa compatibilité avec différentes tailles de plaquettes, et la flexibilité offerte par son AFM et d'autres fonctions avancées, cette machine est adaptée à de nombreuses applications de test différentes. Grâce à sa combinaison de techniques AFM et optiques avancées, DEKTAK II est un outil hautement fonctionnel et rentable auquel tout fabricant de semi-conducteurs peut faire confiance pour obtenir des résultats précis et fiables.