Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK II #9156427 à vendre en France
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ID: 9156427
Profilometer
Measurement range: 500A to 655, 000A
Vertical resolution: 10A
Scan distance: 100um to 30mm.
VEECO/SLOAN DEKTAK II est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes très avancé et fiable. Ce système peut être utilisé pour plusieurs applications, telles que la mesure des caractéristiques physiques des composants en couches minces et des dispositifs semi-conducteurs, l'alignement et la cartographie des circuits, et d'autres mesures de métrologie générale. VEECO DEKTAK II utilise une combinaison de capteurs d'accélération piézoélectrique qualifiés dans l'espace et de jauges de contrainte piézorésistives pour mesurer et caractériser avec précision les couches minces, les dispositifs avancés en silicium et les dispositifs semi-conducteurs sur des plaquettes rigides ou des substrats flexibles. Cette unité est capable de mesurer avec précision des dispositifs de l'ordre de 0,5 à 100 microns. SLOAN DEKTAK II fonctionne sur les derniers logiciels et plateformes avec accès à des logiciels de mesure automatisés avancés et des paquets d'analyse, offrant aux utilisateurs les meilleures performances et fonctionnalités pour l'ensemble de leurs exigences de test et de métrologie. Il utilise également des outils logiciels avancés pour l'analyse et la graphie des données, permettant une analyse détaillée des résultats et des mesures. Avec la capacité de mesurer en plusieurs axes, DEKTAK II peut mesurer avec précision l'épaisseur et les défauts aussi petits que 5 nanomètres, offrant aux utilisateurs un niveau de précision et de performance sans précédent. La machine est capable de collecter des images dans différents modes, y compris une seule image, plusieurs images, double caméra, et fenêtre multiple. VEECO/SLOAN DEKTAK II propose également plusieurs commandes de faisceau électronique, telles que des fonctions de réglage, de calibrage et de correction afin d'assurer des résultats précis. En outre, l'outil est équipé d'un vide haut de gamme et chambre d'environnement pour assurer des performances optimales dans des conditions environnementales variables. L'actif offre des fonctionnalités supérieures de collecte, d'analyse et de manipulation d'images, offrant aux utilisateurs flexibilité et polyvalence. VEECO DEKTAK II est incroyablement précis et fiable, ce qui en fait une solution de test de wafer et de métrologie idéale. Avec les dernières technologies, le modèle peut mesurer et caractériser des dizaines de différents types de matériaux sur des substrats rigides et flexibles, offrant aux utilisateurs les meilleures performances possibles. Comme l'équipement est conçu pour résister à des paramètres environnementaux extrêmement exigeants, les utilisateurs peuvent être assurés que leurs résultats seront de la plus haute qualité, sans dégradation dans le temps. Dans l'ensemble, SLOAN DEKTAK II est un système de test et de métrologie de plaquettes avancé et fiable, capable de fournir des résultats très précis et fiables qui prennent en charge plusieurs applications.
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