Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK II #9223578 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK II est un équipement de haute précision qui est utilisé pour les essais de plaquettes et la métrologie. Ce système est capable de mesurer la topographie des plaquettes avec des échelles nanométriques de précision. Il dispose également de l'imagerie en temps réel des sites sur une plaquette en trois dimensions. VEECO DEKTAK II est équipé d'un scatteromètre optique qui fournit des données supplémentaires sur la surface de la plaquette. Il est également livré avec un processeur d'image numérique, qui peut analyser les images et créer un profil tridimensionnel de la surface de la plaquette. L'unité fonctionne en tracant d'abord un chemin circulaire autour de la circonférence de la plaquette. Comme les données sont enregistrées, il est utilisé pour produire une carte tridimensionnelle de la topographie de surface de la plaquette. La machine utilise une petite force de balayage appliquée à la surface de la plaquette, et peut mesurer des profondeurs jusqu'à 0,1 nanomètres. L'outil est flexible et offre plusieurs options pour différents types de mesures. Il est capable de mesurer une variété de plaquettes, allant des plaquettes de silicium aux plaquettes MEMS, et peut analyser ces échantillons de diverses façons. Par exemple, on peut analyser la forme, la hauteur du pas, la résistivité et d'autres propriétés de l'échantillon. L'actif est lié à un PC qui peut être utilisé pour stocker des données mesurées, ainsi que pour les analyser. Ce modèle comprend également une interface utilisateur graphique, ce qui le rend facile à utiliser. Les données peuvent être extraites dans une variété de formats, donnant aux utilisateurs la flexibilité d'interpréter les résultats de la manière qu'ils choisissent. SLOAN DEKTAK II est un outil très précis et polyvalent qui peut être utilisé pour des mesures et analyses précises de différents types de plaquettes. Il offre une approche fiable, efficace et globale de la métrologie et des essais des plaquettes. C'est un outil précieux dans les domaines de la production et de la recherche de semi-conducteurs et de MEMS.