Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #114323 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK IIA wafer testing and metrology equipment est un outil de mesure avancé et polyvalent qui permet de mesurer avec précision les couches et films minces sur des plaquettes utilisées dans diverses applications industrielles et de recherche. Ce système combine les innovations les plus actuelles en matière d'ingénierie de précision, d'alignement optique et de commande de mouvement. VEECO DEKTAK IIA est particulièrement capable de mesurer une large gamme d'épaisseurs de film, de moins de 1 angström jusqu'à 2000 angströms, avec un haut degré de précision et de répétabilité. L'unité est construite avec un poste de travail ergonomique sécurisé, de conception ergonomique, avec un joystick de précision et un grand écran couleur haute résolution. Une machine de surveillance garantit une précision et une fiabilité maximales, tandis qu'un outil de suivi des données garantit que les mesures sont prises et documentées de façon cohérente. SLOAN DEKTAK IIA comprend également un outil de traitement automatisé avancé des plaquettes et un multiplexeur pour l'intégration avec d'autres instruments. DEKTAK IIA utilise un positionneur avancé à trois axes pour mesurer avec précision et précision l'épaisseur des couches. L'équipement d'alignement optique du modèle assure un positionnement précis de l'échantillon, tandis que de multiples modes de balayage permettent de mesurer des couches minces même dans des régions à haute teneur en résidus ou de topologie complexe. VEECO/SLOAN DEKTAK IIA dispose également d'un mode de balayage automatique qui permet un balayage unidirectionnel efficace. Ceci permet des vitesses de balayage en ligne élevées, ce qui permet de mesurer les couches minces plus rapidement qu'avec un balayage classique. En outre, VEECO DEKTAK IIA est équipé d'un système d'échange automatique de plaquettes permettant un échange rapide et fiable d'échantillons entre la scène et de multiples outils d'instrumentation. SLOAN DEKTAK IIA fournit un logiciel d'analyse de données détaillé pour l'analyse automatisée et le changement des paramètres pour les résultats de métrologie. Ce logiciel comprend une interface graphique avancée pour l'interprétation immédiate des données, ainsi que des rapports graphiques complets pour la présentation et le traitement ultérieur des résultats d'analyse. Dans l'ensemble, l'unité d'essai et de métrologie des plaquettes DEKTAK IIA est un outil avancé et fiable qui convient à un large éventail d'applications industrielles et de recherche. Grâce à ses multiples modes de balayage, sa précision et sa précision avancées, et à son logiciel d'analyse de données efficace, VEECO/SLOAN DEKTAK IIA est un outil essentiel pour garantir le plus haut degré de précision dans la mesure et l'analyse des couches minces.