Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK IID #9160091 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK IID est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour fournir une analyse rapide et précise des matériaux des plaquettes semi-conductrices. Le système est composé de quatre composants principaux : un microscope électronique à balayage (SEM), un profilomètre intégré, un détecteur de particules/métaux et un microscope optique. Le profilomètre intégré mesure la géométrie d'une plaquette jusqu'à une précision tridimensionnelle ainsi que le déplacement vertical et l'inclinaison. Le scanner déplace la plaquette selon les axes X et Y tout en recueillant des informations de topographie. Il peut mesurer des caractéristiques aussi petites que 0,1 μ m, avec une résolution de 0,25 μ m. Le détecteur de particules/métaux est un détecteur à haute sensibilité qui identifie et localise des oligo-éléments métalliques et des particules à la surface de la plaquette, permettant une détection précoce des défauts. Le microscope optique est un microscope numérique modifié capable d'agrandir jusqu'à 1600x et de se superposer à des images SEM pour identifier avec précision les défauts. VEECO DEKTAK IID fournit également une interface utilisateur graphique (interface graphique) facile à utiliser. L'interface graphique permet aux utilisateurs de configurer l'unité rapidement et intuitivement, ce qui le rend facile à utiliser pour les utilisateurs de tous les niveaux. La machine comprend un ensemble complet d'outils d'analyse, permettant aux utilisateurs d'effectuer la rugosité de surface, l'analyse de photocopie, la mesure de la hauteur d'étape, et d'autres tests. Pour un maximum de temps et de débit, SLOAN DEKTAK IID est conçu pour supporter le chargement et le déchargement automatiques des plaquettes avec plusieurs configurations de porte-échantillons. Les porte-échantillons sont conçus pour faciliter l'insertion, le retrait et l'échange. L'outil comprend également un actif de correction automatique des processus qui ajuste dynamiquement ses paramètres pour une plus grande précision dans l'optimisation des processus. En conclusion, DEKTAK IID est un modèle avancé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour fournir une analyse rapide et précise des matériaux des plaquettes semi-conductrices. Il est doté d'un détecteur de particules et de métaux très sensible pour détecter les défauts tôt, d'une interface graphique facile à utiliser, d'outils d'analyse complets, d'un équipement de correction automatique des processus et d'un support automatique de chargement et de déchargement des plaquettes. Avec ses caractéristiques robustes et sa facilité d'utilisation, VEECO/SLOAN DEKTAK IID est un choix idéal pour les essais de plaquettes semi-conductrices et la métrologie.