Occasion VEECO / SLOAN V200-SL #9257117 à vendre en France

VEECO/SLOAN V200-SL est un système automatisé de test et de métrologie des plaquettes de VEECO Metrology. Il est conçu pour la caractérisation et l'analyse avancées des plaquettes pour des matériaux tels que le nitrure de gallium, les nanotubes de carbone, les semi-conducteurs et d'autres plaquettes optoélectroniques. VEECO V200-SL est capable d'imagerie de haute précision, sans contact et de caractérisation de divers matériaux sur plusieurs longueurs d'onde. Il comprend un scanner d'imagerie qui fournit jusqu'à 13.3X grossissement, avec une résolution de 1 à 10 nm. Le système intègre également le profileur optique à haute résolution SLOAN pour des mesures de profilage de surface précises. SLOAN DEKTAK V-200 SL permet une analyse rapide d'une large gamme d'échantillons avec une caractérisation dynamique étendue, un débit élevé et des capacités de cartographie polyvalentes. De plus, ses modes et paramètres personnalisables offrent une flexibilité maximale et permettent aux utilisateurs de mettre en place des tests rapidement et facilement. Les capacités avancées d'essai et de métrologie des plaquettes SLOAN V200-SL comprennent l'analyse de corrélation d'images, l'imagerie de contraste et de photoluminescence des matériaux, l'inspection de la rugosité et des défauts de surface et diverses autres techniques d'analyse et de caractérisation. Sa suite logicielle complète permet aux utilisateurs d'analyser les données rapidement et d'automatiser la collecte et l'analyse des données. V200-SL dispose également d'une gamme d'options pour étendre ses capacités. Il supporte jusqu'à deux interrupteurs de chambre, permettant un transfert rapide d'échantillons entre différents modules de test et de mesure. Il supporte également plusieurs étages d'échantillons et divers objectifs interchangeables pour le balayage et l'imagerie à grande vitesse. Dans l'ensemble, VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 SL est un système d'essai et de métrologie fiable et économique qui offre une analyse complète et précise de matériaux tels que le nitrure de gallium, les nanotubes de carbone, les semi-conducteurs et les plaquettes optoélectroniques. Son scanner d'imagerie haute résolution, son profileur optique, son analyse de corrélation d'images et ses paramètres personnalisables en font un outil puissant pour caractériser une gamme de matériaux avec précision et précision.