Occasion VEECO V200-Si #9235749 à vendre en France

L'équipement VEECO V200-Si Wafer Testing and Metrology est une solution compacte et économique pour mesurer les paramètres de performance critiques des wafers semi-conducteurs pendant la production. Il utilise une optique logicielle pour mesurer la topographie, l'épaisseur et l'uniformité des surfaces de la plaquette. Le système fournit également une gamme de caractéristiques d'analyse pour s'assurer que la plaquette répond aux spécifications souhaitées. VEECO V 200SI dispose d'une unité de balayage et de mesure incroyablement précise, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et facilement les caractéristiques de la plaquette. La machine fournit une résolution de 0,3 micron et une plage de mesure jusqu'à 26mm x 26mm. Le microscope dispose d'un zoom optique allant jusqu'à 1000 fois et d'un grand champ de vision qui permet un champ de vision plus grand tout en gardant intacts les détails des caractéristiques de chaque appareil. L'outil VEECO utilise une variété de méthodes de métrologie contrôlée par logiciel, y compris le balayage par contact, le balayage sans contact et les méthodes spectroscopiques. Ces techniques permettent à l'utilisateur de mesurer les hauteurs des fonctionnalités et de générer des points de données pour examen. Le logiciel fournit également une gamme de solutions d'analyse de données, de la numérisation automatique des données topographiques à l'évaluation de la rugosité de surface. V200 SI comprend également une interface graphique conviviale et intuitive et des ressources informatiques avancées, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et facilement les données et de créer des rapports d'ingénierie complets. De plus, les utilisateurs peuvent surveiller, analyser et optimiser les performances des plaquettes en temps réel, ce qui les aide à assurer une qualité uniforme tout au long du processus de production. Dans l'ensemble, DEKTAK V-200 SI Wafer Testing and Metrology Asset offre une solution très sophistiquée et pratique pour les tests automatisés de wafer et la métrologie. Ses capacités de mesure et d'analyse précises, associées à son interface graphique intuitive, en font un choix idéal pour les opérations d'inspection des plaquettes de haute précision. De plus, les programmes de soutien technique et de formation post-vente VEECO permettent aux utilisateurs de tirer le meilleur parti de leur modèle et d'atteindre les plus hauts niveaux de précision et de débit dans le processus de production.