Occasion VEECO V200-Si #9235992 à vendre en France

VEECO/DEKTAK V200-Si est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de précision conçu pour mesurer les couches de puces semi-conductrices pour l'épaisseur, la planéité et d'autres caractéristiques microstructurales. Le système utilise une technologie de détection optique avancée pour mesurer et analyser la topographie de surface d'une plaquette, ce qui en fait un outil idéal pour la recherche et la production dans l'industrie des semi-conducteurs. La technologie de détection optique VEECO V 200SI utilise deux types de scanners : un miroir à balayage ultra-compact et un miroir à balayage bas. Les miroirs à balayage ultra-compact sont conçus pour capturer avec précision la topographie des sites à forte rugosité, tandis que les miroirs à balayage à faible profil fournissent des mesures plus précises des sites à faible rugosité. Les données des scans sont utilisées pour créer une carte topographique 3D de la surface de la plaquette, qui peut être utilisée pour analyser les caractéristiques de la surface, telles que la taille des grains, la structure cristalline, et d'autres défauts microstructuraux. L'unité DEKTAK V200 SI comprend également des logiciels de traitement et d'analyse automatisés des données. Le logiciel permet à l'utilisateur de créer des mesures personnalisées pour mesurer des caractéristiques microstructurales spécifiques dans la plaquette. Le logiciel automatise également tout le processus de métrologie, le rendant plus facile et plus efficace pour l'utilisateur. En outre, DEKTAK V- 200 SI est programmé avec une interface linguistique universelle pour s'assurer que les données sont facilement comprises et appliquées à d'autres systèmes. DEKTAK V200-Si dispose également d'une variété d'accessoires qui peuvent améliorer la précision des mesures. Ces accessoires comprennent un scanner de taille variable, un étage stabilisé en température et un câble à fibre optique. Le scanner de taille variable peut être ajusté pour mesurer différentes plaquettes de taille, tandis que l'étage stabilisé en température assure des lectures précises dans des environnements chauds et froids. Le câble à fibre optique permet le transfert de données à grande vitesse entre la plaquette et le poste de travail. DEKTAK V 200SI est une machine de test et de métrologie avancée conçue pour la mesure et l'analyse précises des couches semi-conductrices. Sa technologie de balayage optique de haute précision et son logiciel automatisé de traitement et d'analyse des données en font un outil idéal pour mesurer et analyser les caractéristiques microstructurales de la plaquette. En outre, ses accessoires rendent l'outil capable de manipuler une large gamme de tailles et de températures de plaquettes. VEECO/DEKTAK V- 200 SI est un outil puissant et fiable pour la recherche et la production dans l'industrie des semi-conducteurs.