Occasion VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING Benchmark 450 #9180602 à vendre en France

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING Benchmark 450 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour les procédés de fabrication de plaquettes semi-conductrices. Ce système offre un ensemble unique de caractéristiques qui le rendent adapté à la caractérisation des processus, à la détermination du taux de rampe et à la caractérisation des défauts. VIEW ENGINEERING Benchmark 450 microscope électronique à balayage (SEM) est une unité automatisée qui combine la dernière en matière d'optique électronique de haute puissance et de nouvelles technologies de mise en scène d'échantillons. Cela permet aux utilisateurs de mesurer efficacement les propriétés des caractéristiques des sous-microns et de suivre les dimensions critiques, les distributions dopantes, les bords de ligne et les profils de gravure. La machine offre une large gamme de capacités d'analyse allant de simples mesures de surface 2D, à l'analyse d'image complexe et les caractérisations électriques. L'outil est équipé d'un lecteur x-y intégré et d'un étage motorisé. Cette configuration permet aux utilisateurs d'effectuer un balayage macro ainsi que des mesures de sous-microns. Le faisceau de focalisation variable permet l'imagerie haute résolution de la taille des fonctionnalités jusqu'à 0,25 microns. L'actif est également équipé d'une alimentation à haute tension, ce qui le rend capable de détecter et d'analyser les caractéristiques de faible endommagement. GENERAL SCANNING Le modèle Benchmark 450 dispose également de logiciels avancés d'automatisation et d'imagerie. Le logiciel de visualisation de l'équipement d'échantillonnage (SSV) permet aux utilisateurs de programmer facilement l'automatisation, de personnaliser les paramètres d'imagerie et de capturer jusqu'à 100 images par échantillon. Le logiciel fournit également des analyses et des rapports en temps réel des données de métrologie permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement les non-uniformités de processus. L'optique du système a été spécialement conçue pour le fonctionnement du faisceau électronique à ondes continues, offrant une excellente résolution et répétabilité. De plus, un réseau de détecteurs est installé pour permettre à l'unité de mesurer les propriétés des échantillons monocristallins et multicristallins. Ces détecteurs permettent aux utilisateurs de mesurer rapidement les propriétés de caractéristiques telles que les distributions dopantes, les bords de ligne et les profils de gravure. Benchmark 450 est une machine de test et de métrologie de plaquettes rentable qui offre aux utilisateurs une suite de fonctionnalités efficaces et complètes. Cet outil convient à la caractérisation des procédés semi-conducteurs, à la détermination du taux de rampe et à la caractérisation des défauts et a été utilisé dans des centaines d'environnements de production à travers le monde. Cet atout fournit également une excellente résolution, répétabilité et logiciel automatisé.