Occasion VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING View Bazic 8 #9105953 à vendre en France

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING View Bazic 8 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour une utilisation industrielle dans la fabrication de semi-conducteurs. Il est idéal pour des mesures de précision des paramètres des plaquettes et fournit une analyse complète d'une variété d'échantillons d'essai. Le système est équipé d'un analyseur d'image optique à fort grossissement (OIA). Cela permet une imagerie contrastée des plaquettes d'essai et des mesures précises de leurs structures et propriétés physiques complexes. VIEW ENGINEERING View Bazic 8 se compose de trois composants principaux : la console des opérateurs, l'unité Mainframe principale et l'OIA. La console des opérateurs permet d'entrer différents paramètres et réglages de mesure et de contrôler l'ensemble de l'unité. Il fournit également une interface utilisateur graphique complète (interface graphique) pour une interprétation rapide et facile des données. La Main Mainframe Unit fournit la puissance de calcul de la machine en intégrant les capteurs de caméra, le processeur et la mémoire. Cette unité est capable de stocker et de traiter une variété de formats de données, et permet de calibrer des images pour des mesures précises. Le Bureau de la vérification interne intègre une variété de caractéristiques pour assurer des mesures précises. Il comprend des lentilles avec agrandissements 4x, 10x et 20x, une caméra CCD verticale, une carte de traitement d'image haut de gamme, et un outil de source de lumière propriétaire. Les lentilles offrent une vue claire des plaquettes d'essai et garantissent une excellente résolution d'image jusqu'à l'échelle du nanomètre. De plus, la caméra CCD et la carte de traitement d'images permettent à l'OIA de capturer des images précises de plaquettes de test, et de mesurer leurs paramètres avec une grande précision. La source lumineuse exclusive mesure l'intensité et la direction de la lumière incidente pour étudier les propriétés optiques des échantillons d'essai. GENERAL SCANNING View Bazic 8 est un outil puissant et très précis de test de plaquettes et de métrologie pour la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de capturer des images à haute résolution de plaquettes et de mesurer précisément leurs paramètres. L'OIA assure une analyse précise et l'interprétation des données grâce à son excellente résolution d'image et la détection précise de la lumière incidente. La console Operators fournit une interface graphique complète pour toutes les fonctions du modèle, garantissant un contrôle facile des données. Par conséquent, View Bazic 8 est la solution idéale pour la fabrication industrielle de semi-conducteurs.