Occasion WENTWORTH 0-021-0200 #293634266 à vendre en France

WENTWORTH 0-021-0200 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la caractérisation des dispositifs à semi-conducteurs et des dispositifs à semi-conducteurs et MEMS. Ce système de métrologie avancé est capable d'effectuer différents types de tests et de mesures avec précision et précision. Le 0-021-0200 est composé d'un étage d'échantillonnage multi-étages, multi-axes, et d'une unité de mesure de recouvrement haute résolution qui mesure avec précision un certain nombre de paramètres du dispositif, tels que les constantes diélectriques, la capacité de grille, la capacité de grille à drain et d'autres performances paramétriques. La machine comprend une gamme complète d'outils de mesure, dont un microscope CCD, un logiciel d'imagerie numérique, une chambre d'environnement contrôlée thermiquement et un logiciel précis de suivi et d'analyse des échantillons. WENTWORTH 0-021-0200 propose des tests précis et précis d'une large gamme de structures avancées de dispositifs semi-conducteurs, y compris finFET, FD-MOSFET, III-V, et Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) architectures. L'outil est équipé d'un maximum de 32 étages d'alignement, d'un contrôle de mouvement 9 axes, d'étages de haute précision et de cellules de charge à haute résolution de force, d'options de montage d'échantillons rapides et d'une large gamme d'accessoires de métrologie optique pour diverses tâches de test. Le 0-021-0200 utilise une technologie interférométrique à balayage à haute précision et à haute vitesse combinée au traitement optique de l'image, permettant des mesures de résolution sous-nm. L'actif offre des mesures répétables et une plage dynamique de 0,3 à 50,2 microns, vérifiant la conception et la construction des appareils au niveau des plaquettes. WENTWORTH 0-021-0200 est conçu pour des tests rapides et précis dans des environnements allant de la recherche et de l'ingénierie à la métrologie de production. Le modèle offre une large gamme de détections d'erreurs avancées, y compris des logiciels intégrés d'enregistrement et d'analyse des données, avec planification automatisée des tests et génération de rapports. Le 0-021-0200 offre une gamme complète de capacités d'essai, permettant aux ingénieurs, aux chercheurs et au personnel de production de vérifier rapidement l'intégrité structurelle et le comportement thermique des dispositifs à semi-conducteurs et MEMS. Cet équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes est capable de dépasser les exigences de précision et de précision des structures nouvelles et émergentes de niveaux de plaquettes, offrant une caractérisation fiable et répétable sur une large gamme de matériaux et dispositifs IC.