WESTAR (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre
WESTAR est un fabricant leader d'équipements d'essai et de métrologie de plaquettes, fournissant des solutions de pointe pour l'industrie des semi-conducteurs. Leurs analogues de haute qualité offrent de nombreux avantages en termes de précision, d'efficacité et de flexibilité. Un de leurs produits phares est le système de test FPM-510 wafer, qui est connu pour ses performances supérieures et ses fonctionnalités avancées. Ce système permet un contrôle complet des plaquettes, garantissant un contrôle optimal de la qualité et de la fiabilité. Il fournit une précision exceptionnelle dans la mesure de divers paramètres tels que l'épaisseur, la planéité et la rugosité des plaquettes. Le système FPM-510 offre plusieurs avantages par rapport aux méthodes d'essai traditionnelles. Premièrement, il dispose d'une interface hautement automatisée et conviviale, simplifiant le processus de test des plaquettes et réduisant le risque d'erreur humaine. En outre, ce système a une capacité de débit élevée, permettant de tester efficacement plusieurs plaquettes simultanément. En outre, le système FPM-510 est très adaptable et peut accueillir un large éventail de tailles et de matériaux de plaquettes, ce qui le rend adapté à diverses applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Un autre exemple notable des systèmes d'essai et de métrologie des plaquettes de WESTAR est le FPM-501, qui est spécialement conçu pour la mesure des couches minces. Ce système fournit des mesures précises des paramètres des couches minces tels que l'épaisseur et l'indice de réfraction, assurant une caractérisation précise des matériaux des couches minces. En conclusion, les unités d'essai et de métrologie des plaquettes WESTAR offrent une technologie de pointe et des performances exceptionnelles. Avec leurs caractéristiques avancées et de nombreux avantages, tels que la précision, l'efficacité et la flexibilité, ces machines sont largement reconnus et utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs.
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