Occasion WIS INC PDS 1020-G2 #9258990 à vendre en France

L'équipement WIS INC PDS 1020-G2 d'essai de plaquettes et de métrologie est un outil d'analyse de précision conçu pour l'inspection semi-automatisée et la catégorisation des plaquettes de circuits intégrés (IC) et de semi-conducteurs composés. Ce système est capable d'effectuer des tests de résistance au contact et de microscopie optique (OM), ce qui en fait une solution idéale pour l'analyse des performances de l'appareil et de la puissance. PDS 1020-G2 comprend un microscope optique à tube de verre équipé d'une source de lumière automatisée, d'un étage motorisé, d'une unité d'imagerie numérique à haute résolution et d'une machine de vision intégrée à sélection matérielle. L'outil d'imagerie numérique utilise un capteur CCD de 10 mégapixels pour capturer des images numériques de surfaces de plaquettes à des grossissements allant jusqu'à 500x. L'actif de vision intégrée comprend des algorithmes avancés de traitement d'images pour détecter avec précision les défauts et effectuer des mesures sur les images capturées. Le modèle dispose également d'une station de sonde à ultrasons de précision et d'un équipement de contrôle de mouvement de haute précision, permettant des mesures intégrées de résistance des points de l'échantillon. La station de sonde à ultrasons est capable d'acquérir des résistances jusqu'à 10GHz, tandis que le système de contrôle de mouvement déplace rapidement la sonde entre les points de mesure pour une cartographie précise de la résistance. Une plate-forme porte-échantillons est également incluse pour maintenir les plaquettes en place pendant les essais. En plus des tests physiques, WIS INC PDS 1020-G2 comprend des logiciels embarqués pour la gestion des données et leur présentation. Cette unité prend en charge les graphiques 2D et 3D pour donner un aperçu complet des performances de la plaquette, ainsi qu'une fonctionnalité qui permet à l'utilisateur de comparer plusieurs configurations et de faire des jugements sur des configurations de test optimales. En outre, des utilitaires de post-analyse sophistiqués sont inclus pour déchiffrer plus précisément les résultats des tests. PDS 1020-G2 est une machine de test et de métrologie compacte, facile à utiliser, adaptée à une variété d'applications de semi-conducteurs, du développement d'IC à l'optimisation de la qualité des procédés. Sa facilité de fonctionnement, sa grande précision et ses fonctionnalités logicielles complètes en font une solution idéale pour l'analyse des performances des appareils et de la puissance.