Occasion WYKO NT 8000 #9302479 à vendre en France

ID: 9302479
Style Vintage: 2005
Optical profiler With BASLER A311f camera Objectives: 5x and 50x Galil controller With DELL G7 computer Operating system: Windows XP 2005 vintage.
WYKO NT 8000 est un puissant équipement de test et de métrologie de plaquettes qui fournit une grande précision et vitesse. Il s'agit d'un système optique sans contact éprouvé qui utilise la technologie d'imagerie en « champ sombre » pour mesurer rapidement une grande variété de caractéristiques sur la plaquette, y compris la topographie de surface, la hauteur des marches, la taille des particules et la taille des défauts. La conception unique de l'unité comprend une caméra CCD avancée sur une étape de positionnement de précision, ainsi qu'un processeur de signal numérique de haute puissance (DSP) pour contrôler l'imagerie et le mouvement. Le DSP ajuste automatiquement les paramètres de gain et d'exposition de la caméra pendant l'imagerie, assurant ainsi des mesures précises des caractéristiques de la plaquette. NT 8000 dispose également d'une capacité de focalisation automatique unique qui minimise les erreurs de focalisation et optimise la vitesse et la précision du balayage. WYKO NT 8000 est capable de mesurer une variété de géométries de plaquettes, y compris la topographie des plots, les angles des parois latérales des portes, les indentations et les profondeurs des fentes. Il est également capable de mesurer simultanément plusieurs types de caractéristiques en un seul balayage. Cela permet un processus rapide et efficace qui donne des résultats très précis. Cette machine a une excellente répétabilité et est conçue pour fournir un débit et une précision maximum. Il supporte une variété de conditions de mesure telles que différents niveaux de zoom et de résolution d'image pour une meilleure précision. Il est également équipé d'une large gamme d'optiques spécialisées, d'accessoires et d'options qui lui permettent de mesurer une gamme de caractéristiques et de géométries sur la plaquette. En plus de la métrologie des plaquettes, l'outil peut également automatiser la génération de fonctionnalités de micro-motifs. C'est également une excellente solution pour inspecter les substrats non plats tels que les lentilles, le verre et les plaquettes AlN. Dans l'ensemble, NT 8000 wafer testing and metrology asset est un modèle optoélectronique avancé qui fournit des mesures rapides et de haute précision des caractéristiques de wafer. Sa conception polyvalente permet la mesure simultanée de plusieurs types de fonctionnalités, ainsi que la génération automatisée de micro-motifs. Avec ses performances éprouvées par l'industrie et son interface conviviale, WYKO NT 8000 est une solution idéale pour diverses applications d'inspection et de métrologie.
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