Occasion WYKO / VEECO 3306 #293650078 à vendre en France

WYKO/VEECO 3306 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance qui offre une précision et des performances supérieures lorsqu'il s'agit de contrôler et de mesurer les attributs physiques de toutes les plaquettes semi-conductrices. Ce système mesure les différentes caractéristiques des plaquettes, telles que les lignes à motifs, ainsi que l'analyse des propriétés optiques et de la résolution d'image. L'unité WYKO 3306 comprend plusieurs composants, dont l'optique, les détecteurs, les étages XYZ et d'autres composants électroniques associés. L'optique utilisée par la machine est achromatique et télécentrique, fournissant la meilleure qualité d'image possible qui assure des mesures répétables et précises. Les détecteurs et les étages XYZ montés sur la machine sont à la fois très précis et précis, contribuant à garantir la précision de l'outil dans son ensemble. La technique utilisée pour le test/mesure des plaquettes est basée sur la scatterométrie, qui est une forme de diffraction de la lumière. VEECO 3306 peut mesurer les largeurs de ligne pour les couches de conception, ainsi que les caractéristiques structurelles, la surface de balayage et plus encore sur les plaquettes d'échantillons. L'actif peut également vérifier la qualité des résultats des gravures en mesurant les caractéristiques non visibles sur la plaquette après les finitions de traitement. Le modèle peut mesurer avec précision la profondeur des structures de l'échantillon, ainsi que l'angle et le profil des parois latérales des structures, permettant ainsi aux utilisateurs de prédire avec précision les résultats de leur conception. 3306 est capable d'identifier automatiquement des défauts aussi petits que deux à trois pixels, assurant la meilleure qualité possible en matière de tests et de métrologie. Il est également capable de mesurer des informations de structure 3D, telles que des hauteurs de pas, des profils et des variations d'intensité d'image. WYKO/VEECO 3306 est un équipement d'essai et de métrologie très polyvalent capable de fournir une précision et des performances supérieures lorsqu'il s'agit de contrôler et de mesurer les attributs physiques de toutes les plaquettes semi-conductrices. Ce système offre une excellente solution pour les utilisateurs qui doivent mesurer, analyser et vérifier avec précision la qualité de leurs plaquettes.