Occasion WYKO / VEECO 600 #9234535 à vendre en France

WYKO/VEECO 600 est un équipement d'essai et de métrologie haute performance conçu pour la vitesse et la précision dans l'évaluation des produits. Ce système est un outil de pointe pour l'analyse de plaquettes semi-conductrices de géométries arbitraires avec une variété de technologies de mesure disponibles, telles que la microscopie à force atomique (AFM) et la microscopie électronique à balayage (SEM). Il est capable de mesurer rapidement et avec une grande précision toute la gamme de lithographies, de dépôts, de gravures ioniques réactives et d'autres procédés de fabrication de semi-conducteurs. L'unité a une conception brevetée de métrologie optique pour l'inspection acquise par sa marque WYKO Instruments. Cette machine optique comprend une source de lumière oblique et un outil de lentille télécentrique, qui fournissent tous deux une précision de mesure améliorée. L'actif est également équipé d'un modèle de balayage XYZ double pour le balayage et soit répétable XY ou XYZ. WYKO 600 fournit également une visibilité au niveau des fonctionnalités de la surface de la plaquette pour l'analyse des défaillances. Il a intégré du matériel et des logiciels pour mesurer, analyser et comparer des images haute résolution de la surface de la plaquette. L'équipement permet de collecter des données automatisées à partir de plusieurs emplacements de la surface d'une plaquette avec un logiciel d'analyse des particules. Le système est équipé de modes de fonctionnement puissants avec une résolution de 200 ou 500nm et des capacités de mesure spécialisées. Ces modes de fonctionnement ont la correction de mouvement, la duplication de problèmes d'arête, et la méditation de mesure pour une résolution accrue. Il dispose d'une capacité Multi Target Scanning (MTS) pour surveiller l'uniformité des fonctions et déterminer la stabilité du processus et la cohérence du produit. VEECO 600 est une unité polyvalente de test et de métrologie avec des caractéristiques puissantes. Il est conçu pour la vitesse, la précision et la commodité et peut être utilisé pour optimiser de nombreux processus de fabrication. C'est un outil idéal pour examiner et analyser les géométries des plaquettes semi-conductrices.