Occasion WYKO / VEECO HD 3300 #293658703 à vendre en France

WYKO/VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil de test de wafer haut de gamme conçu pour mesurer les propriétés physiques et les caractéristiques des puces semi-conductrices et optoélectroniques. Il offre une large gamme de fonctions de métrologie intégrées et est capable de contrôler la qualité des propriétés des plaquettes. Le système utilise une combinaison d'équipements optiques, mécaniques et électroniques pour effectuer l'inspection et la mesure des plaquettes, permettant un examen approfondi du matériau, y compris son profil de surface, la profondeur des structures, les couches diélectriques et métalliques, les couches semi-conductrices composées, etc. L'unité WYKO HD 3300 est capable de résister à l'environnement dur de la salle blanche sans sacrifier la précision. Il est conçu pour mesurer les propriétés des plaquettes jusqu'à 450 mm et est capable de détecter un large éventail de propriétés physiques, allant de la topographie de la surface à la composition chimique de la couche. La machine comprend des optiques avancées pour l'acquisition d'images de la plaquette et est capable d'effectuer des inspections et des mesures incluant par exemple la topographie, la détection de défauts, les hauteurs des marches des bords, l'épaisseur du film, l'arc de plaquette, la topographie 3D, la taille et la forme des particules. Il est également capable de mesurer des propriétés électriques telles que la résistance, la capacité, l'inductance et les propriétés diélectriques. L'outil permet une analyse rapide des données ; il peut effectuer des calculs avancés tels que l'extraction des données des images, la création d'images 3D, et l'identification et la catégorisation des défauts. De plus, les données peuvent être exportées dans différents formats pour être analysées plus avant. Enfin, il est intégré à une fonction automatique de mesure des particules et des défauts, fournissant des résultats d'analyse fiables. VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Asset est un instrument polyvalent pour tester et mesurer les caractéristiques des wafers semi-conducteurs et optoélectroniques. Il offre un moyen efficace et puissant de s'assurer que les plaquettes répondent aux normes requises tout en assurant la précision et la fiabilité.