Occasion WYKO / VEECO NT 1100 #9303100 à vendre en France

ID: 9303100
Profilometer.
WYKO/VEECO NT 1100 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes semi-conductrices. Il offre un test et une métrologie très précis et précis de nombreux semi-conducteurs, y compris les circuits à couches minces et épaisses. Le système est idéal pour les laboratoires de recherche et développement, ainsi que pour les services de contrôle de la qualité des entreprises de fabrication de puces. WYKO NT 1100 dispose d'un microscope électronique à balayage unidimensionnel très sensible, permettant une inspection étroite des petites caractéristiques des semi-conducteurs et des microstructures. Le microscope offre des grossissements jusqu'à 200 000 x, avec une résolution de 0,8 nm. Il a une taille de 1000 μ m et un champ de vision maximum de 4 mm. En outre, VEECO NT1100 dispose également d'un détecteur d'imagerie quadratique haute performance, avec une détectivité de 200 000 comptages/sec. L'unité est extrêmement polyvalente, capable de mesurer les propriétés électriques, optiques et physiques. Il offre également une vaste gamme de capacités de mesure et de test automatisées, telles que le test électrique, la caractérisation optique, l'alignement de superposition et l'analyse de contraintes. De plus, NT 1100 est compatible avec un certain nombre de techniques d'imagerie, telles que les rayons X, le faisceau d'ions et les instruments à faisceau d'électrons. En termes de performance, WYKO NT1100 fournit des résultats très fiables et reproductibles. Ses capacités avancées et ses fonctions de test automatisées lui permettent de traiter les tâches complexes de métrologie des plaquettes rapidement et avec précision. La configuration de la machine est conviviale, avec un grand écran tactile et une structure de menu intuitive, permettant un fonctionnement et une navigation faciles. Dans l'ensemble, WYKO/VEECO NT1100 est un outil puissant et très précis de test de plaquettes et de métrologie. Ses capacités et ses performances le rendent bien adapté aux applications de recherche, de développement et de contrôle de la qualité des semi-conducteurs.
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