Occasion WYKO / VEECO NT 2000 #153871 à vendre en France

WYKO/VEECO NT 2000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer les structures à l'échelle des nanomètres dans les plaquettes semi-conductrices. Il utilise la microscopie à force atomique (AFM) et d'autres sondes optiques et électriques avancées pour mesurer les topographies et les caractéristiques électriques des structures. Le système est capable de tester et de détecter des structures aussi petites qu'une fraction d'un nanomètre et a une résolution inférieure à 10 picomètres. Il dispose également d'une unité optique haute résolution et d'un laser puissant pour mesurer la topographie et d'autres caractéristiques des structures. WYKO NT 2000 offre une large gamme de capacités de mesure, y compris la mesure des propriétés électriques des structures, du courant de sonde, ainsi que la forme et la taille des structures. La machine est équipée d'un outil de vision et de navigation avancé qui permet aux scientifiques de mesurer avec précision les nanostructures et de les optimiser pour des applications spécifiques. Il est équipé d'une interface utilisateur innovante qui le rend facile à utiliser, à configurer et à analyser les données. Il offre également un atout avancé de régulation de température qui est réglable sur des plages très étroites et qui peut être utilisé pour étudier les effets de la température sur les nanostructures. VEECO NT 2000 permet également d'intégrer plusieurs techniques et techniques AFM telles que la microscopie à force électrostatique (EFM). Cela permet aux scientifiques de mesurer simultanément différents paramètres physiques tels que le potentiel de surface, la constante diélectrique et la rugosité de surface. Le modèle offre également des fonctionnalités avancées de gestion des données, permettant de stocker et trier les données pour une analyse rapide. Les données peuvent être exportées sous divers formats et exportées vers d'autres systèmes pour analyse plus approfondie. En conclusion, NT 2000 est un équipement révolutionnaire d'essai de plaquettes et de métrologie qui rend les essais et la détection à l'échelle du nanomètre plus faciles et plus accessibles. Le système est capable de mesurer les propriétés électriques, la topographie et la taille des nanostructures avec une haute résolution et précision. Il offre également une interface utilisateur innovante et des capacités de gestion de données avancées, ce qui en fait un excellent choix pour la recherche à l'échelle nanométrique.