Occasion WYKO / VEECO NT 2000 #293587040 à vendre en France

WYKO/VEECO NT 2000 Wafer Testing and Metrology Equipment fournit une analyse sophistiquée des matériaux semi-conducteurs. En utilisant un étage de balayage 3D à 4 axes avec une plage de balayage de 5mm dans chaque axe, le système est capable d'obtenir des mesures à l'échelle du nanomètre. L'unité intègre un large éventail d'outils d'analyse pour une application critique tels que la caractérisation microstructurale, la métrologie des couches minces et l'analyse des défaillances. La machine WYKO NT 2000 comprend une grande zone d'éclairage, une optique améliorée, une imagerie numérique, des plaquettes semi-conductrices de 6 pouces manipulant le moteur, et des paramètres microscopiques haute résolution. L'outil dispose d'une optique télécentrique qui fournit une profondeur de champ supérieure et une imagerie uniforme dans tout le champ de vision. Cette optique est intégrée à un atout avancé de caméra numérique qui capture des images d'échantillons exactes. Le gestionnaire de plaquettes de 6 pouces du modèle VEECO NT 2000 peut traiter diverses tailles de plaquettes, perforations et types de substrat semi-conducteur. Il fournit un rotateur et un indexeur de plaquettes pour plusieurs opérations de plaquettes. En outre, il est équipé d'un ordinateur d'analyse de données et de chargement d'échantillons pour l'analyse en réseau et la manipulation de données. L'équipement NT 2000 est conçu pour fonctionner dans un large éventail de conditions environnementales. Il est étanche aux vapeurs, contrôle de la température (+ 22 +/- 10 degrés Celsius), et il dispose de la technologie de suppression des vibrations. Le système est équipé d'une variété de logiciels pour fournir une analyse précise. Ces forfaits comprennent WYKO Image Analyzer, VEECO Monitoring and Performance Analyzer, WYKO/VEECO Micro-lithographie Analysis, et WYKO Profiler - un outil de puissance pour la cartographie 3D avancée et l'auto-staging. WYKO/VEECO NT 2000 Wafer Testing and Metrology Unit est idéal pour l'analyse et la caractérisation avancées des matériaux semi-conducteurs. Cette machine fournit des résultats précis et reproductibles, permettant à l'utilisateur d'analyser des échantillons dans des environnements 2D et 3D. Il permet aux utilisateurs d'acquérir des images 3D de la topographie d'un échantillon, de la texture de surface et d'autres caractéristiques de microstructure. Son imagerie haute résolution et son automatisation efficace fournissent aux utilisateurs des outils d'analyse de données flexibles pour le développement matériel et le contrôle des processus.