Occasion WYKO / VEECO NT 2000 #9394281 à vendre en France
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WYKO/VEECO NT 2000 est un instrument d'essai et de métrologie de plaquettes techniquement avancé conçu pour une grande variété d'applications d'essais et de recherche. L'équipement dispose d'une électronique à faible bruit, d'un logiciel performant, de mesures précises des plaquettes et de capacités flexibles de balayage des plaquettes. Au cœur de WYKO NT 2000 se trouve son système optique. À l'aide de détecteurs de comptage de photons, l'unité capture les données d'un seul spot sur une plaquette et est capable de scanner jusqu'à 30 x 30 matrices de spots. La machine optique peut mesurer avec précision de petites caractéristiques sur la plaquette telles que des largeurs de ligne, des profondeurs de fente ou des hauteurs de pas. Il a la capacité de mesurer à la fois les propriétés optiques et électriques des plaquettes, telles que la réflectivité, l'indice de réfraction ou la résistivité d'un conducteur. L'outil a également la capacité de mesurer les concentrations de dopage. VEECO NT 2000 utilise un logiciel de haute technologie qui permet une analyse détaillée des données des balayages des plaquettes. L'actif peut être utilisé pour détecter, diagnostiquer et corriger tout défaut dans la plaquette elle-même ou dans le processus de fabrication. Le logiciel fournit également une interface graphique pour le contrôle et l'optimisation des données. NT 2000 est un modèle très polyvalent. En plus des tests de plaquettes, l'équipement peut également être utilisé pour des procédés de microfabrication tels que la photolithographie. Il est conçu pour être compatible avec la plupart des systèmes de fabrication de plaquettes et de métrologie. Le système dispose d'un étage linéaire de précision pour la facilité de fonctionnement et offre une excellente répétabilité. WYKO/VEECO NT 2000 est une solution idéale pour la métrologie des plaquettes et l'essai de différents types de matériaux et tailles de plaquettes. C'est une unité très précise, fiable et conviviale qui convient à la fois pour des applications de recherche et de production.
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