Occasion WYKO / VEECO NT 3300 #9150830 à vendre en France

ID: 9150830
Style Vintage: 2000
Profilometer 2000 vintage.
WYKO/VEECO NT 3300 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer qui offre un large éventail de caractéristiques et de capacités uniques, y compris la caractérisation approfondie des processus, la détection de défauts, l'imagerie et l'analyse des structures de circuits intégrés (IC). Le système est conçu pour permettre aux utilisateurs de mesurer et d'évaluer rapidement et avec précision les IC au fur et à mesure de leur développement et de leur fabrication. WYKO NT 3300 offre un certain nombre de caractéristiques de conception innovantes, telles qu'une unité de manutention motorisée automatisée des plaquettes pour l'alignement rapide et précis des plaquettes, la métrologie à grande vitesse, les options de cartographie des plaquettes, et une variété d'appareils de test électrique au microscope électronique à balayage (SEM). L'interface utilisateur pratique de la machine simplifie le flux de travail et garantit la précision et la répétabilité des mesures. VEECO NT 3300 fournit également des fonctions de métrologie puissantes pour la mesure électrique et physique. Il offre une large gamme de mesures électriques, telles que des tests de résistance, de capacité et de conductivité. Il possède également des stimuli électriques intégrés pour l'isolation des défauts, ainsi que des mesures de courant continu et de radiofréquence (RF). Sa capacité de métrologie physique comprend des détections de contraintes/contraintes et des mesures plastiques, ainsi qu'une analyse de surface sans contact. En outre, l'outil offre une caractéristique unique de l'inspection automatisée par étapes avec la capacité de profilage pour vérifier les processus de fabrication. Les capacités d'imagerie de l'actif permettent aux utilisateurs de détecter, isoler et analyser les défauts de processus rapidement et avec précision. Il est capable de capturer et d'analyser des images des IC à l'aide d'outils de microscopie à balayage laser ou de microscopie électronique à balayage (SEM). Ses caractéristiques d'imagerie comprennent également une mesure de section 3D qui peut capturer des images à haute résolution automatiquement, en couches simples et multiples. Enfin, l'instrument offre une variété d'options matérielles et logicielles pour répondre à un éventail de besoins de l'industrie. Il peut être équipé d'une variété de sondes personnalisées, telles qu'une sonde à pales, une sonde de capacité et un thermocouple qui aident à surmonter certaines des limitations des systèmes d'essai classiques. Le logiciel fournit l'analyse automatisée des données et la génération de rapports pour rendre l'ensemble du processus efficace et répétable. Dans l'ensemble, le NT 3300 est un modèle efficace et fiable pour l'essai des plaquettes et la métrologie. Avec son large éventail de caractéristiques, y compris la manutention motorisée automatisée des plaquettes, la métrologie à grande vitesse, l'imagerie, les tests électriques, et une variété de sondes, il est un choix idéal pour le développement et la fabrication de pointe IC.
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