Occasion WYKO / VEECO NT 8000 #183083 à vendre en France

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ID: 183083
Optical profiler Win XP-Pro sp3 100um/sec Scan speeds, 8mm scan height Scan speed 1x,3x,11x,20x Three modes scan speed vsi, psi, evsi (enhance vsi) 200mm (8") scan stage computer control with encoders Motorize 4 position turret with auto detect Full automation with internal reference signal (laser guide) Enable self calibrating accuracy over the entire scan range Integrated air table Objectives: 5.0x fov 2.47x1.88 with .55x; 50.0x fov 0.25x0.19 with .55x 5.0x fov 1.24x0.94 with 1.0x; 50.0x fov 0.12x0.09 with 1.0x Including 10x lens Light source using fiber to eliminate thermal interference High speed auto focus, tip/tilt stitching optional (included) 2005-2006 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000 est un équipement de métrologie et d'essai de plaquettes à haute performance conçu pour améliorer la précision et la répétabilité du processus de fabrication des semi-conducteurs. Le système est composé de quatre composants : un profileur de surface optique sur mesure (OSP), un profileur de surface 3D sans contact (NCSP) basé sur l'optique, un contrôleur de mesure et une suite logicielle pour l'analyse et la génération de rapports. L'OSP utilise une source lumineuse à faible cohérence pour fournir des résultats fiables à partir de mesures de surface, tandis que le NCSP utilise une unité à température contrôlée, basée sur l'optique pour mesurer les profils de surface 3D. Les deux utilisent une chambre à haute pression et à vide pour le refroidissement des échantillons et une chambre à vide pour le chargement des plaquettes. Le contrôleur de mesure est conçu pour intégrer les résultats des systèmes OSP et NCSP, assurant un contrôle automatisé du processus de mesure et offrant des performances de haute précision. Il fournit également une interface utilisateur intuitive qui permet aux utilisateurs de configurer facilement leurs besoins de métrologie et de test. La suite logicielle WYKO NT 8000 comprend à la fois des processus d'acquisition de données et des outils d'analyse qui permettent aux utilisateurs d'analyser et de présenter rapidement les données. La suite comprend des fonctionnalités avancées telles que la réduction des données et les algorithmes de correction des erreurs, permettant aux utilisateurs de déterminer plus précisément les résultats de mesure. En outre, la suite logicielle fournit la génération et le stockage automatisés de rapports, permettant aux utilisateurs d'examiner rapidement, de signaler et d'agir sur les résultats de performance. Dans l'ensemble, VEECO NT8000 metrology and wafer testing machine est un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs et les chercheurs cherchant à augmenter les performances et la précision. En combinant le profileur optique de surface et l'imagerie 3D sans contact avec une suite d'outils logiciels puissants et faciles à utiliser, VEECO NT 8000 permet aux utilisateurs de surveiller, d'analyser et d'optimiser facilement leurs processus pour une efficacité et des performances maximales.
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