Occasion WYKO / VEECO NT 8000 #9309123 à vendre en France

ID: 9309123
Style Vintage: 2004
Optical 3D surface profiler With COHU 6612 Digital camera Stitching and advanced analysis Motorized nosepiece with objectives: 5x and 50x Gail stage controller: 5-Axis TMC Isolation table DELL OptiPlex Operating system: Windows XP 2004 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie. Il fournit des capacités complètes de caractérisation des wafers, de métrologie et de surveillance des processus. Conçu pour fonctionner efficacement dans une variété d'environnements fab, WYKO NT 8000 est un système très avancé qui utilise une optique de pointe, des technologies de mesure et des logiciels d'analyse de processus pour optimiser le débit et le rendement fab. VEECO NT8000 dispose d'une unité d'imagerie optique sans contact sur l'axe qui fournit des mesures d'ultra haute résolution avec une dérive minimale. La machine peut accueillir une large gamme de tailles et d'orientations de plaquettes, et peut facilement s'intégrer avec les fabs les plus modernes. Avec un grand champ de vision et un faible grossissement, NT 8000 capture des images de wafers pleins à grande vitesse, et peut également capturer des images de filière simple. L'éclairage avancé fournit une imagerie haute résolution pour l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre. VEECO NT 8000 comprend également une capacité de métrologie améliorée. Cette fonction permet des mesures très précises des paramètres des semi-conducteurs tels que la longueur de ligne, l'angle de flanc, la dimension critique (CD), le balayage zéro des CD et la variance. L'outil est également capable de réaliser d'autres techniques de métrologie, telles que la scatterométrie et la photométrie. WYKO NT8000 offre la plus grande précision disponible et convient à un large éventail d'applications. NT8000 dispose également d'un actif avancé de détection de défauts qui peut détecter des défauts aussi petits que 75 nm. Il combine quatre technologies de pointe - champ lumineux, champ sombre, fluorescence UV et scatterométrie - pour permettre une détection rapide et efficace des défauts. De plus, le modèle utilise l'imagerie haute résolution pour la reconnaissance de motifs complexes. WYKO/VEECO NT8000 dispose également d'un logiciel d'analyse de processus amélioré. Ce logiciel permet une analyse instantanée et précise des performances des processus, ce qui permet de réduire au minimum le temps nécessaire pour identifier et résoudre les problèmes de processus. Le logiciel intègre des outils sophistiqués de comparaison entre plaquettes et une interface graphique glisser-déposer pour un accès facile aux données. WYKO/VEECO NT 8000 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes qui est conçu pour maximiser le débit et le rendement fab. Ses capacités d'imagerie optique avancées, ses caractéristiques de métrologie et son logiciel d'analyse de processus permettent de mesurer rapidement et avec précision une variété de paramètres de semi-conducteurs. Le système amélioré de détection des défauts permet une détection efficace des défauts et une analyse des performances des processus. Toutes ces fonctionnalités font de WYKO NT 8000 une unité de test et de métrologie des plaquettes hautement capable.
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