Occasion WYKO / VEECO NT 8100 #9211301 à vendre en France
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Vendu
ID: 9211301
Optical profiling system
Monitor: 27"
Basler
Vision: 3.6
Galil
8 x 8 Stage
Operating system: Windows 7.
WYKO/VEECO NT 8100 est un équipement d'essai et de métrologie spécifiquement conçu pour le contrôle de la qualité et l'analyse des défaillances dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système combine une série automatisée de WYKO, l'analyse de la déflexion horizontale (HDA) et l'optique VEECO Navi-Scan pour une couverture de 360 degrés. Il peut mesurer, analyser et suivre les caractéristiques de surface, les défauts et la métrologie des particules. WYKO NT 8100 est construit sur une tablette pour un accès facile, et ses composants matériels sont intégrés pour fournir des mesures et des analyses cohérentes sur toute la surface de la plaquette. La série WYKO/VEECO Nlorsqu'il s'agit d'une unité d'inspection de déformation de plaquettes sans contact qui permet de mesurer avec précision les variations de contraintes à longue et à courte distance à l'échelle nanométrique. Il permet de suivre des propriétés telles que l'adhérence superficielle, la dureté, la raideur, l'uniformité et la contrainte résiduelle. La machine HDA permet l'imagerie haute résolution d'un large éventail de structures et de caractéristiques et l'analyse détaillée des dommages de surface et d'autres défauts. WYKO Navi-Scan utilise une technologie d'imagerie physique pour capturer avec précision les caractéristiques et les particules en trois dimensions, fournissant ainsi une métrologie précise de la densité, de la taille et de la forme des particules. VEECO NT 8100 est contrôlé par VEECO Smart Tool Control Interface (SCI), offrant une collecte de données automatisée, l'intégration avec d'autres systèmes, et des outils d'analyse sophistiqués pour une performance efficace. Le SCI permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres, de configurer des expériences en plusieurs étapes et de générer des rapports personnalisés détaillés. De plus, le SCI est compatible avec les solutions logicielles communes d'inspection des plaquettes telles que Fab Operator et Fab Inspector. Dans l'ensemble, NT 8100 actif fournit une solution complète pour l'essai de plaquettes et la métrologie, contribuant à assurer la production cohérente de produits semi-conducteurs de qualité. Avec sa conception compacte, sa collecte automatisée de données et son large éventail de capacités d'analyse et de métrologie, ce modèle est idéal pour un suivi efficace et précis des processus de production, l'assurance de la qualité et l'analyse des défaillances.
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