Occasion WYKO / VEECO NT 9800 #9289675 à vendre en France

WYKO/VEECO NT 9800 Wafer Testing and Metrology Equipment est un instrument très polyvalent et fiable capable de fournir des solutions pour un large éventail d'applications de métrologie. Le système est adapté pour tester des plaquettes semi-conductrices de grande surface, fournissant une analyse détaillée et la caractérisation des propriétés physiques et électriques des matériaux. L'unité se compose d'un poste d'usinage principal, d'un étage de plaquettes avec un axe Z motorisé, d'une tête de balayage avec machine de projection optique et d'un logiciel de métrologie avancé. L'étage de plaquette fait tourner des substrats de 200 mm de diamètre au maximum pour fournir une vue optique uniforme de la plaquette sur l'ensemble de celle-ci. La rotation de la plaquette est commandée par l'intermédiaire d'un ordinateur externe et de codeurs intégrés à l'étage fournissant des points de données précis, sans contact, de la surface de la plaquette. L'une des principales caractéristiques de WYKO NT 9800 est son outil de projection optique qui permet de visualiser simultanément plusieurs sites à travers la plaquette. Avec une tête de balayage de position fixe, le dispositif mesure jusqu'à vingt-huit points sur douze sites au maximum, de sorte que plusieurs images peuvent être capturées en vue parallèle. Cela permet une analyse rapide de la topographie des plaquettes à un haut niveau de précision. Le logiciel de métrologie avancé qui accompagne VEECO NT 9800 est capable de générer une gamme de données analytiques telles que la topographie, la dimension critique et les profils de contraintes résiduelles. Le logiciel est également livré avec des algorithmes propriétaires de montage conçus pour simplifier l'interprétation d'ensembles de données complexes. De plus, l'environnement de développement logiciel intégré permet de construire des logiciels d'analyse d'imagerie intégrés personnalisés à partir de zéro. Enfin, le NT 9800 est conçu pour une fiabilité et une répétabilité extrêmes, avec une vitesse d'acquisition de données élevée et un contrôle environnemental intégré. Ses chambres intégrées purgées à l'azote permettent un contrôle précis de la température et une isolation des vibrations nécessaires pour mesurer des plaquettes délicates avec des résultats reproductibles. L'actif de gestion intégrée de l'utilisateur assure la traçabilité complète de toutes les données de test. Dans l'ensemble, WYKO/VEECO NT 9800 Wafer Testing and Metrology Model est un instrument puissant qui offre une large gamme d'applications de métrologie. Son équipement de projection optique avancé et son logiciel de métrologie le rendent idéal pour une analyse rapide, répétable et précise des plaquettes semi-conductrices de grande surface. En outre, son système intégré de gestion des utilisateurs garantit des données fiables et traçables.