Occasion WYKO / VEECO NT 9800 #9301086 à vendre en France

WYKO/VEECO NT 9800 est une plate-forme de test et de métrologie de plaquettes haute performance conçue pour aider les fabricants de semi-conducteurs à mesurer avec précision les caractéristiques de leurs plaquettes et autres composants. La plateforme combine une inspection optique entièrement automatisée, des techniques d'imagerie 3D avancées et des processus de métrologie intégrés pour fournir des points de données précis et des résultats fiables. Les principales caractéristiques du WYKO NT 9800 comprennent le balayage haute/basse vitesse, la métrologie haute résolution, les capacités d'imagerie 3D avancées, les capacités de manipulation automatisée des échantillons, l'analyse d'imagerie avancée, l'acquisition de données à haut débit et l'évaluation automatisée des appareils. VEECO NT 9800 offre plusieurs types de capacités de métrologie, y compris la capacité, la résistivité électrique, la contrainte, la mobilité et les mesures de profil. Le système est capable de cartographier des topographies de surface très variées, et utilise des équipements très raffinés tels que des scanners multi-têtes et des systèmes d'imagerie 3D pour ce faire. Grâce à l'imagerie 3D avancée, des informations détaillées telles que des structures cristallines et des caractéristiques topographiques fines peuvent être cartographiées et analysées avec précision. De plus, NT 9800 est également équipé d'un système automatisé de manipulation des échantillons qui lui permet de gérer simultanément plusieurs plaquettes et composants. En utilisant des cassettes de plaquettes, la fonction Auto-Loader permet un flux continu d'échantillons à travers le système car les plaquettes sont automatiquement chargées sur les broches de traitement, ce qui permet de tester plusieurs plaquettes rapidement et avec précision. WYKO/VEECO NT 9800 dispose de multiples options de balayage, y compris le balayage haute et basse vitesse, qui permet une caractérisation rapide et détaillée d'une plaquette ou d'un composant. Le balayage à grande vitesse utilise un taux d'acquisition moyen de 1 million de points de données par seconde et fournit une résolution et une précision inégalées tout en maintenant un taux de balayage extrêmement rapide. Le balayage à faible vitesse, par contre, est optimisé pour des temps de balayage plus lents et fournit une reconstruction tridimensionnelle plus détaillée de l'échantillon sous le microscope. Enfin, WYKO NT 9800 offre également une acquisition de données à haut débit qui permet de collecter et d'analyser rapidement un grand nombre de plaquettes en un seul balayage. Les données acquises grâce à ce processus peuvent être utilisées dans des évaluations de dispositifs en temps réel, permettant aux fabricants d'évaluer rapidement et avec précision la qualité et les caractéristiques de leurs plaquettes et composants. En conclusion, VEECO NT 9800 est une plate-forme de test et de métrologie de plaquettes très avancée qui fournit des points de données très précis et fiables pour les fabricants de semi-conducteurs. Avec ses capacités de traitement automatisé des échantillons, de numérisation à grande vitesse, d'imagerie 3D avancée et d'acquisition de données à haut débit, NT 9800 est une plateforme puissante et polyvalente pour l'analyse des wafers et autres composants.