Occasion WYKO / VEECO SP 3200 #9174271 à vendre en France

WYKO/VEECO SP 3200 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui a été conçu pour l'analyse des dispositifs semi-conducteurs critiques. Le système permet aux utilisateurs d'analyser efficacement les grands substrats, y compris ceux créés grâce aux nanotechnologies avancées, tout en maintenant une précision supérieure. Cette unité de métrologie robuste permet des tests rapides et précis des plaquettes et peut analyser des motifs aussi petits que 50 nanomètres. Il supporte la microscopie électronique à balayage haute résolution (SEM) et les capacités de profilage de surface. Cette machine dispose également d'un étage XY rapide et automatisé qui est capable de se déplacer jusqu'à 400 mm/sec. L'outil d'inspection est équipé du dernier logiciel intégré AccuVisc™ -MX, qui fournit une plate-forme graphique et conviviale pour l'acquisition de données et le reporting. Ce programme complet est capable de simuler jusqu'à quatre têtes de numérisation X et Y distinctes, et peut créer des cartes 3D détaillées des périphériques en temps réel. La boîte à outils intégrée dispose également d'une sortie vidéo intégrée, permettant une visualisation en temps réel. WYKO SP 3200 actif offre également un certain nombre de fonctionnalités spécialisées, telles que la dimension critique automatisée (CD) et les mesures de superposition. Ce modèle peut également être utilisé pour mesurer la résistivité d'une plaquette d'échantillon, et est équipé d'un module de programmation de tension avancée pour le contrôle fin et l'analyse. VEECO SP 3200 est un équipement de test et de métrologie de plaquettes incroyablement puissant et bien adapté aux applications avancées de modulation et de lithographie. Ce système offre une précision supérieure et des capacités de balayage rapide, permettant aux utilisateurs d'analyser et d'identifier rapidement même les plus petits défauts ou irrégularités sur les substrats de plaquettes. Avec son interface utilisateur intuitive, son logiciel intégré et ses fonctionnalités spécialisées, cette unité offre une excellente plate-forme pour la conception et l'analyse des semi-conducteurs.