Occasion ZEISS Surfcom 130A #9091160 à vendre en France

ZEISS Surfcom 130A est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et précises des plaquettes semi-conductrices. Ce système est capable d'effectuer des analyses de plaquettes sans contact et non destructives et permet aux utilisateurs d'inspecter, de vérifier et de mesurer avec précision les propriétés géométriques d'une plaquette. Surfcom 130A travaille en utilisant des techniques optiques avancées pour capturer des images bidimensionnelles de la surface d'une plaquette semi-conductrice. Ces images sont utilisées pour obtenir des mesures précises et fiables des caractéristiques fondamentales de la plaquette telles que l'espacement entre lignes et d'autres caractéristiques géométriques. L'unité comprend une caméra CCD haute résolution et un banc optique avancé qui permet de capturer des images bidimensionnelles à une résolution de 0,9 µm, donnant aux utilisateurs précision et précision lors de l'inspection et de la mesure des plaquettes semi-conductrices. ZEISS Surfcom 130A comprend également un logiciel de contrôle puissant et facile à utiliser, permettant aux utilisateurs de contrôler tous les paramètres de la machine et les tâches de gestion des données. Ce logiciel permet de personnaliser l'outil en fonction des besoins des utilisateurs, ce qui en fait un outil polyvalent et puissant pour le test des plaquettes et la métrologie. Le logiciel permet également aux utilisateurs d'initier les mesures rapidement et efficacement, tandis qu'une variété d'algorithmes et de méthodes basés sur le logiciel sont disponibles, offrant aux utilisateurs la capacité d'effectuer des tâches de métrologie avancées telles que l'analyse de forme et de profil. Globalement, Surfcom 130A offre aux utilisateurs une solution puissante et précise pour l'analyse et la mesure des plaquettes métalliques et diélectriques. Avec son banc optique avancé, son optique haute résolution et son logiciel puissant, les utilisateurs peuvent être assurés que leurs mesures de plaquettes seront précises et fiables. Cet atout offre aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour analyser et mesurer une large gamme de plaquettes semi-conductrices, leur donnant la confiance que leurs mesures sont exactes et précises.