Occasion ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9081438 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR NLorsqu'il s'agit d'un appareil à rayons X conçu pour des applications de caractérisation nanomatérielle. Le système se compose d'une source de rayons X, d'un réflectomètre à rayons X mono-axe et d'une étape de positionnement des échantillons. La source de rayons X fournit une gamme de signaux de diffusion des rayons X à faible angle (SAXS) et de diffraction des rayons X transmise (TXRD) qui peuvent être utilisés pour mesurer avec précision la phase, la morphologie et la microcristallinité des nanomatériaux de quelques centaines de nanomètres jusqu'à une taille d'un seul nanomètre. Le réflectomètre utilise un faisceau semi-monochromatique de rayons X pour mesurer les angles de diffusion entre 0,5 et 17 degrés, ce qui lui permet d'acquérir des données à haute résolution sur les caractéristiques de la nanostructure. L'unité ADE NéterminMapper dispose d'une source de rayons X fermée, permettant d'effectuer des mesures dans un environnement contrôlé. Cela évite les sources de bruit ou de vibrations, et permet également de s'assurer que les niveaux de rayonnement restent sûrs pour le personnel à proximité. La machine est également très automatisée, avec un outil de positionnement robotique pour le placement des échantillons. Cela permet des mesures très répétables, permettant des comparaisons significatives dans le temps et entre les échantillons. L'actif KLA Nageusement Mapper produit des images haute résolution qui peuvent être facilement post-traitées et analysées. Il est également capable de produire des ensembles de données multidimensionnelles telles que des images SAXS, des données de diffraction des rayons X de transmission (TXRD), des reconstructions 3D et des micrographies haute résolution. Ces données peuvent être utilisées pour mesurer la taille et la forme des nanomatériaux ; détecter les défauts et les impuretés ; analyser les champs de souche ; déterminer les coefficients de diffusion ; et suivre les changements dans les propriétés morphologiques et cristallines des nanomatériaux au fil du temps. Le modèle est conçu pour répondre aux normes industrielles les plus strictes et est configuré pour fonctionner avec un minimum de maintenance et de temps d'arrêt. La conception modulaire permet également des mises à niveau rapides et rentables à mesure que de nouvelles applications ou technologies apparaissent. Les contrôles automatisés et les tolérances strictes assurent des résultats fiables et reproductibles de chaque expérience, fournissant une rétroaction significative aux scientifiques et aux ingénieurs en matériaux. TENCOR NconceptuMapper est un outil précieux pour la caractérisation des matériaux et fournit une mine d'informations sur les nanomatériaux.