Occasion ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9235752 à vendre en France

ADE / KLA / TENCOR NanoMapper
ID: 9235752
X-Ray spectrometer.
ADE/KLA/TENCOR Nlorsqu'il s'agit d'un puissant appareil de radiographie capable d'imiter des échantillons à l'échelle du nanomètre. Le système utilise une technologie de balayage de pointe pour produire des images à haute résolution avec une résolution allant jusqu'à 1 nanomètre. L'analyse complète de la morphologie et de la composition de la surface d'un échantillon est fournie par l'ADE. Le détecteur intégré inné de KLA NhouseMapper est capable de capturer des images à haute sensibilité sur une large gamme d'énergies de rayons X de 5 à 50 keV. Cela permet aux opérateurs de créer des composites multi-énergies pour identifier les changements dans la composition relative ou le contraste à la surface de l'échantillon. L'unité utilise un générateur de rayons X à grande vitesse et une machine de déplacement du moteur linéaire qui offre un contrôle précis sur le champ de balayage. Cela permet un balayage uniforme et ultra précis avec un défocus minimal. Ces analyses sont également entièrement programmables, ce qui permet de saisir et d'analyser avec précision les données de n'importe quelle zone cible. TENCOR Nérabilité Mapper comprend également une vaste gamme d'outils logiciels, tels que le paquet d'analyse des particules qui permet une analyse avancée de la taille et de la forme des particules. De plus, le module d'analyse morphologique peut afficher la rugosité de surface de l'échantillon, la topographie de l'interface et le profil de précision dimensionnelle globale. Elle est idéale pour les chercheurs dans des domaines tels que la technologie des semi-conducteurs, la recherche en microélectronique, les nanomatériaux et les sciences de la vie. Par exemple, en utilisant les porte-échantillons rapides, l'outil peut recueillir rapidement des milliers de points de données en une fraction du temps nécessaire pour les instruments à rayons X typiques. D'autres fonctionnalités avancées comprennent les décisions automatisées de temps d'exposition, la couture contrôlée par l'utilisateur pour le champ de vues grand format, et les capacités d'imagerie de fluorescence pour l'identification et le positionnement des particules. La carte ADE/KLA/TENCOR comprend également un alignement d'image automatisé et une correction de distorsion. L'instrument ADE NconceptuMapper est vraiment un instrument polyvalent qui offre un niveau inégalé de précision et de précision pour l'analyse nanoscopique. En combinant l'imagerie à haute résolution avec des outils d'analyse logicielle complets, les utilisateurs sont en mesure de revoir leurs données rapidement et avec précision.
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