Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #293642145 à vendre en France

BRUKER-AXS AXS D8 Discover est un diffractomètre à rayons X de pointe utilisé pour la recherche de matériaux avancés. Il utilise la technologie de diffraction des rayons X pour déterminer la structure des matériaux cristallins. Cet équipement est conçu pour la recherche à haute résolution sur les matériaux cristallins et est équipé d'un oscillateur à cavité qui utilise des niveaux d'énergie relativement faibles pour acquérir des données en un court laps de temps, améliorant significativement la résolution du motif de diffraction. BRUKER-AXS D8 DISCOVER est capable de mesurer une grande variété de matériaux, dont des métaux, des alliages, des céramiques, des polymères et des produits pharmaceutiques. Il est également capable d'un large éventail de tailles et de formes d'échantillons, y compris des films minces et des poudres. Le système a une vitesse de balayage maximale de 3000 °/min, ce qui lui permet d'acquérir un ensemble de données complet en quelques secondes, ce qui est essentiel pour une haute fidélité des données. En outre, la machine de détection d'images à haut débit et à haut rayon d'action permet l'acquisition simultanée de données sur toutes les orientations des échantillons, et son interface graphique facile à utiliser permet aux utilisateurs de configurer rapidement et facilement l'outil pour répondre à leurs besoins de recherche. AXS D 8 DISCOVER dispose également d'un actif d'alignement, qui s'adapte à différents porte-échantillons, permettant un déplacement sur trois axes pour assurer un positionnement optimal de l'échantillon. En outre, le modèle dispose d'une large gamme d'accessoires, y compris des porte-échantillons, des systèmes de régulation de température et des logiciels d'analyse de données, qui permettent aux utilisateurs d'obtenir des résultats détaillés. De plus, D8 DISCOVER fournit une résolution de faisceau inégalée, permettant à l'utilisateur de collecter des données de haute qualité. Dans l'ensemble, AXS D8 Discover est un diffractomètre à rayons X avancé conçu pour des performances supérieures en recherche de matériaux. Ses vitesses d'acquisition de données rapides, son équipement de détection d'imagerie haute résolution, son système d'alignement actif et sa large gamme d'accessoires en font un outil idéal pour déterminer la structure des matériaux cristallins.