Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #293646153 à vendre en France

Fabricant
BRUKER-AXS
Modèle
AXS D8 Discover
ID: 293646153
Style Vintage: 2013
X-Ray Diffraction (XRD) system Running hours: 1200 LynxEye Detector (2) Cathodes: Copper and chrome Single crystal sample plate Residual stress Multi-sample holder Numerous alignment aids Calibration 2013 vintage.
BRUKER-AXS AXS D8 Discover est un équipement de diffraction des rayons X conçu pour la recherche et les laboratoires industriels. Le système est conçu pour effectuer une analyse qualitative et quantitative des nanostructures. Il est équipé d'une source de rayons X de grande puissance, d'une collimation à quatre faces, d'un détecteur de plaques d'imagerie sophistiqué et d'un logiciel de balayage rapide. L'unité dispose d'un goniomètre très précis qui peut être incliné jusqu'à 50 degrés et fournit une rotation d'axe rapide jusqu'à 5000 tr/min. La source intégrée de rayons X microfocus crée une tache de haute luminosité jusqu'à 30 um, permettant une mesure plus rapide et plus précise des propriétés des échantillons. La source de rayons X du microfocus est alimentée par un circuit d'alimentation électrique amélioré de 50 kHz, ce qui se traduit par un temps de chauffage court et une plus grande stabilité. Le détecteur de plaques d'imagerie utilise une zone de détection de 10x10 cm avec un CCD sensible capable de HD. Le détecteur de plaque d'imagerie est réglable jusqu'à 5 cm de l'échantillon pour augmenter la profondeur de mise au point. Il est équipé d'un obturateur à commande logicielle et d'une machine de capture d'image, permettant de mesurer en temps réel les caractéristiques de l'échantillon. Le logiciel intégré de balayage rapide fonctionne indépendamment du matériel. Il dispose d'outils puissants pour l'analyse des données avant et après l'expérience, y compris l'analyse de la taille des particules et l'analyse de la structure des cristaux. En outre, le logiciel de balayage rapide permet aux utilisateurs d'ajuster divers paramètres tels que l'énergie et l'intensité des rayons X, et d'acquérir des données dans différents formats. L'outil dispose également d'une interface graphique conviviale (interface graphique). L'interface graphique guide facilement les utilisateurs à travers les fonctions de l'actif et fournit une rétroaction visuelle détaillée de la conception expérimentale. En sélectionnant les boutons, paramètres et paramètres appropriés, l'utilisateur est en mesure de générer rapidement des types spécifiques de résultats pour l'analyse. BRUKER-AXS D8 DISCOVER est un modèle de diffraction des rayons X très avancé, fournissant les outils et composants nécessaires à l'analyse des caractéristiques physiques et chimiques des échantillons. Sa combinaison de source de rayons X de pointe, de détecteur de plaques d'imagerie et de logiciel de balayage rapide assure des données précises et à jour pour la recherche et les laboratoires industriels.
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