Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #293795989 à vendre en France

Fabricant
BRUKER-AXS
Modèle
AXS D8 Discover
ID: 293795989
X-Ray Diffractometer (XRD).
BRUKER-AXS D8 Discover est un équipement avancé et polyvalent de diffraction des rayons X conçu pour un large éventail d'applications d'analyse des matériaux dans la recherche universitaire, la R-D industrielle, le contrôle de la qualité et la criminalistique. Cet instrument de pointe combine une technologie de pointe et un fonctionnement convivial pour obtenir des résultats performants et faciliter la caractérisation détaillée des matériaux cristallins. Au cœur de BRUKER-AXS D8 Discovery se trouve sa source de rayons X de haute intensité, typiquement un tube de cuivre ou de molybdène, qui génère un faisceau focalisé de rayons X pour éclairer l'échantillon. Ce système offre une flexibilité exceptionnelle dans le choix de la longueur d'onde X optimale pour les besoins spécifiques d'analyse, permettant aux utilisateurs d'obtenir une sensibilité et une résolution supérieures dans leurs expériences. Le composant clé de D8 DISCOVER est son goniomètre qui permet un alignement et une manipulation précis de l'échantillon et du détecteur par rapport à la source de rayons X. Ce goniomètre entièrement automatisé permet une collecte de données rapide et précise sous un large éventail d'angles, facilitant ainsi une analyse structurelle complète des matériaux cristallins. De plus, D8 Discover est équipé d'une machine de détection haute performance, comme un détecteur à scintillation ou un détecteur CCD à solide, qui capture les rayons X diffractés et les transforme en signaux électriques pour analyse. La sensibilité supérieure et la dynamique du détecteur assurent la détection précise des pics de diffraction et la mesure des signaux faibles, permettant la caractérisation des structures cristallines complexes et des transformations de phase. Une caractéristique notable d'AXS D8 Discover est sa suite logicielle avancée, qui offre de puissants outils de traitement et d'analyse de données pour interpréter les schémas de diffraction des rayons X. L'interface utilisateur intuitive permet de naviguer facilement et de personnaliser les paramètres expérimentaux, tandis que les algorithmes sophistiqués permettent l'analyse quantitative de phase, la détermination de la taille des cristallites, le raffinement des paramètres du réseau et la détermination de la structure des cristaux. En outre, BRUKER-AXS D 8 DISCOVER peut être équipé d'accessoires et de modules supplémentaires pour étendre ses capacités et s'adapter à des besoins de recherche spécifiques. Il peut s'agir d'échantillons contrôlés en température pour des études in situ, de changeurs d'échantillons automatisés pour l'analyse à haut débit, de fixations à température variable pour l'étude des transitions de phase et de fixations à incidence de pâturage pour l'analyse en couches minces. En résumé, D8 Discovery est un outil de diffraction des rayons X de pointe qui offre des performances exceptionnelles, une polyvalence et une facilité d'utilisation pour les applications d'analyse de matériaux. Sa puissante combinaison de technologie de pointe, d'instrumentation précise et de logiciels complets en fait un outil indispensable pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à dévoiler les secrets des matériaux cristallins et à faire progresser leur compréhension des relations structure-propriété.
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