Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9121596 à vendre en France
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Vendu
ID: 9121596
Style Vintage: 2005
X-Ray diffraction system
Theta / theta
Hi-Star area detector
Polycap for parallel beam
Centric eularian cradle
Laser / Video microscope
GADDS Plus suite
Diffract + stress analysis software
Diffract + search
ICCD / PDF4
4 PF Specimens in single set-up
Multex software suite
Stress analysis capable with "Leptos" software
Phase analysis
EVA Phase identification and quantitative analysis
Laser specimen "Z" alignment and associated camera
X,Y,Z Stage 40mm, 40mm, 8mm movement
CukAlpha source and polycap on incidence side
No chiller or additional power supplies included
EVA ver10.0
GADDS V4.1.42
Leptos 6.02
D8 3.07
Multex area (Pole figure program)
Large eularian cradle
Laser / optical specimen alignment
2005 vintage.
BRUKER D8 Discovery est un appareil de diffractomètre à rayons X qui est utilisé pour mesurer et analyser la structure cristalline des matériaux. C'est un outil de premier plan pour la caractérisation de matériaux tels que les composés, les semi-conducteurs, les métaux et la céramique. Le système utilise la diffraction pour étudier les propriétés cristallographiques telles que la composition de phase, les paramètres cellulaires et l'espacement des réseaux. L'unité est équipée d'une machine d'imagerie et de repérage en deux dimensions (2D), d'une source de rayons X à anode tournante et d'un détecteur CCD très sensible. L'outil d'imagerie 2D permet un alignement précis de l'échantillon sur le goniomètre et la détection de la composition élémentaire. La source de rayons X est optimisée pour des performances élevées et produit un faisceau avec une forte intensité et une faible divergence. L'actif de repérage analyse les images et fournit des commentaires sur la cristallinité, l'orientation et l'orientation relative de l'échantillon. Le détecteur CCD est amovible et échangeable avec d'autres détecteurs externes pour différentes géométries de diffraction. Le détecteur a une vitesse de lecture rapide et offre une résolution exceptionnelle. La conception avancée du détecteur permet d'acquérir des motifs à haute résolution avec un bruit de fond minimisé. Le modèle offre également un logiciel intuitif pour contrôler l'équipement et analyser les modèles. Le logiciel fournit un large éventail de fonctions d'instrumentation, y compris le chargement d'échantillons, l'acquisition de données et l'analyse de données. Il offre également une interface utilisateur graphique complète pour optimiser la configuration de l'instrument, l'acquisition de données et l'analyse de motifs. D8 Discovery est un puissant système de diffractomètre à rayons X pour la caractérisation avancée des matériaux. L'unité est capable de fournir des motifs de diffraction des rayons X à haute résolution pour caractériser la cristallinité d'un large éventail de matériaux. C'est un instrument robuste, conçu pour fonctionner en laboratoire et sur le terrain. Il est facile à utiliser et à entretenir et offre une excellente résolution, des capacités de repérage, et des fonctionnalités logicielles intuitives. BRUKER D8 Discovery est un excellent outil pour les scientifiques et les ingénieurs travaillant sur le développement de nouveaux matériaux.
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