Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9133963 à vendre en France

BRUKER D8 Discovery est un équipement de spectromètre à rayons X conçu pour la caractérisation des propriétés chimiques et physiques des matériaux pour la recherche, le contrôle de la qualité et d'autres applications. Le système comprend une source de rayons X, une zone d'échantillonnage et un détecteur. La source de rayons X fournit un faisceau de rayons X monochromatique et collimaté pour sonder l'échantillon. La zone d'échantillonnage est équipée d'un porte-échantillon, tel qu'un porte-échantillon avec des capacités d'alignement vertical et horizontal, pour positionner l'échantillon d'intérêt. Le détecteur est utilisé pour recueillir et enregistrer les rayons X émis. Le détecteur peut être une combinaison d'un compteur à cristaux de détection et à scintillation ou d'un détecteur sensible à la position tel qu'un compteur proportionnel rempli de gaz, un compteur à scintillation collimatée en permanence ou un détecteur à plaques multicanaux à semi-conducteurs. D8 Discovery est capable d'effectuer une large gamme de techniques d'analyse des rayons X, y compris la diffraction des rayons X monocristallins, la diffraction des rayons X de poudre, la fluorescence des rayons X (XRF), la réflectivité des rayons X (XRR), la topographie de diffraction des rayons X, la spectroscopie des rayons X (XPS) et l'absorption. La diffraction des rayons X monocristallins est utilisée pour déterminer la structure d'un échantillon en mesurant les positions angulaires du faisceau de rayons X diffracté. La diffraction des rayons X de poudre est utilisée pour obtenir des informations sur la structure cristallographique, la composition chimique et la phase d'un échantillon. La fluorescence X est utilisée pour déterminer la composition élémentaire d'un échantillon. La réflectivité aux rayons X est utilisée pour mesurer le profil de densité électronique d'un échantillon. La topographie de diffraction des rayons X est utilisée pour mesurer la morphologie de surface d'un échantillon. La spectroscopie photoélectronique à rayons X est utilisée pour mesurer la composition chimique et les états électroniques d'un échantillon. Enfin, des mesures d'absorption sont utilisées pour mesurer quantitativement les changements d'absorption dus à des changements dans une propriété d'échantillon, tels que la concentration, la densité ou l'indice de réfraction. En offrant une interface utilisateur flexible, la machine BRUKER D8 Discovery permet à l'utilisateur de configurer et de faire fonctionner l'outil pour une variété de techniques d'analyse des rayons X. L'actif est également capable de collecter automatiquement des données et de fournir une rétroaction en temps réel. D8 Discovery est adapté à une variété de besoins d'analyse de matériaux, de la caractérisation structurale au contrôle de qualité. Ce modèle très polyvalent offre aux scientifiques et aux chercheurs une excellente plate-forme pour étudier les aspects physiques et chimiques des matériaux.