Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9209687 à vendre en France

BRUKER-AXS AXS D8 Discover est un puissant équipement de diffraction des rayons X conçu pour permettre aux scientifiques d'étudier les structures et les propriétés des matériaux et de leur fournir des données extrêmement puissantes. Le système BRUKER-AXS D8 DISCOVER fonctionne en prélevant un faisceau de rayons X et en le diffusant sur un échantillon pour générer des taches de diffraction, qui sont ensuite informées par le scientifique de la structure et de la composition cristallines de l'échantillon. L'unité comprend deux sources de rayons X de haute intensité, un détecteur de zone avec un réseau bidimensionnel d'éléments détecteurs et un générateur alimenté pour le mouvement automatisé des détecteurs et le basculement des échantillons. La machine AXS D 8 DISCOVER est conçue pour permettre aux scientifiques d'étudier une grande variété de matériaux, des cristaux et minéraux aux protéines, alliages et polymères. Ceci garantit un plus grand niveau de précision lors de l'étude des propriétés structurelles et physiques des matériaux. Le grand espace d'échantillonnage de l'outil permet d'obtenir des échantillons de 200 mm de diamètre, tandis que la source de rayons X peut générer des faisceaux de rayons X continus sur une large gamme de temps de mesure. Les deux sources de rayons X de l'actif sont une source de Ge-110/2 (55 kV) et une source de Ge-220/2 (111 kV), ce qui permet de recueillir des données avec diffraction des rayons X à basse et haute énergie. La source de rayons X Ge-110 permet l'analyse de diffraction des matériaux organiques, tandis que la source de rayons X Ge-220/2 offre une résolution plus élevée pour les études cristallographiques. Le modèle est également équipé d'un générateur de suivi qui déplace le détecteur selon trois axes et d'un basculeur d'échantillons pour recueillir des ensembles de données sous différents angles pour couvrir tout l'espace de l'échantillon. Enfin, BRUKER-AXS AXS D 8 DISCOVER comprend une gamme d'options logicielles permettant aux scientifiques d'analyser et d'interpréter leurs données. Le logiciel Bruker AXS TOF-SIMS offre une gamme de fonctionnalités pour aider les scientifiques à interpréter leurs données, y compris la spectroscopie du temps de vol, l'imagerie du spectre de cartographie de l'énergie et la cartographie des résidus. En outre, l'équipement comprend plusieurs outils avancés de contrôle et d'optimisation des instruments pour assurer une collecte de données précise.