Occasion BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9285106 à vendre en France
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Vendu
ID: 9285106
Style Vintage: 2012
X-Ray Diffraction (XRD) system
Scope of supply
D8_A01_2: D8 Discover
D8_A02_F:
Theta
Long track
Vertical, 8"-10"
D8_A03_R, 10"
Tube mount
(2) DOF-ROOT
Window
D8_A04_1: With enclosure
D8_A05_9:
With cabinet
3 kW Generator
Internal water
Water cooling unit
D8_A06_1:
Power supply:
220 V / 230 V / 240 V
50/60 Hz
D8_P27:
Sealed Gobel Mirror Asymmetric Channel Cut monochromator module (GM-ACC)
D8_B38:
Rotary absorber for D8
(4) Positions
Primary beam path mounting G
Bel mirror housing
T62:
UMC 1516
Motorized XYZ-Phi-Chi drives
4" / 4" / 2"
Unlimited turns
Tilt: -5° to +55°
Respectively
(5) Ports of 4-axis
D8 Theta and theta 2R: Motor driver board
D8_T57:
Diffracted beam slit assembly
2.5° Soller slit
D8_S01:
Pathfinder triple bounce
Dual beam path analyzer module
Height, 8"
D8_S45:
Dynamic scintillation detector
Nal
D8_D01:
Ceramic tube KFL Cu 2K
Long fine
2.2kW Cu
SLD 450:
Modification of UMC 1516, 6" / 6" / 2"
Turns: -5° to +5°
Tilt: -5° to +55°
Respectively
(5) D8 4-axis motor driver board
2R Theta / Theta
DEL-PCPENT-STD-INT:
D4 and D8 DIFFRACplus Measurement center diffractometer
P100A100: DIFFRACplus Evaluation
7KP72008AR:
DIFFRACplus LEPTOS H
Miscellaneous:
Detector mounting flange with slit reception
D8_V40: Mount for UBC pin hole collimator (height, 8")
D8_K08: Ni filter for Cu-K Radiation
D8_B05: Plug In slit 6 mm
(2) D8_B50: Plug In slit 2 mm
(2) D8_B51: Plug in slit 1.5 mm
(2) D8_B52: Plug In slit 1.2 mm
D8_B53: Plug In slit 1 mm
(3) D8_B54: Plug In slit 0.6 mm
(3) D8_B56: Plug In slit 0.2 mm
(3) D8_B58: Plug In slit 0.1 mm
(2) D8_B59: Reference crystal for HRXRD
D8_T37: H258 Long spacer optics
D8_S27: H258 Spacer detector
D8_S30: Riser for optics, 8"-10"
D8_S46: Detector interface board
D8_E01: 4-axes motor driver board
(2) D8_E03:
D8 Counter balances
Tube and detector circle
D8_V50: Diagonal slit
C79298A3158B90:
Short riser optics, 8"-10"
(20) C79298A3244B159:
Vario interlock, 8"
A18B35
2012 vintage.
BRUKER-AXS AXS D8 Discover est un équipement avancé de diffraction des rayons X (XRD) conçu pour l'étude des matériaux cristallins. Le système est basé sur la plate-forme avancée Bruker D8, utilisée depuis longtemps dans la recherche et dans les applications industrielles pour la caractérisation des matériaux cristallins. L'unité est équipée d'un détecteur d'imagerie bidimensionnelle haute résolution et d'un moniteur optique à faisceau incident, pour fournir des informations sur l'intensité des rayons X diffractés et l'orientation des échantillons en une seule mesure. La machine fonctionne en émettant des rayons X sur l'échantillon, qui diffèrent de la structure cristalline, produisant un motif de rayons X. L'intensité de ce motif est liée au nombre et à l'orientation des cristallites à l'intérieur de l'échantillon. Ce motif permet ensuite d'analyser la structure et la composition de l'échantillon. L'outil peut être utilisé pour caractériser des matériaux tels que des métaux, des céramiques et des polymères. L'actif est capable d'un fonctionnement automatisé et peut être utilisé pour des mesures individuelles et multi-échantillons. L'échantillon est placé dans un support, qui est déplacé sur l'étage de rotation et aligné avec le faisceau de rayons X incident. L'échantillon peut alors être déplacé dans plusieurs directions pour effectuer des mesures simples ou multiples. Le modèle est également équipé d'un étage vertical motorisé pour le mouvement automatisé des échantillons. Le logiciel de l'équipement est livré avec une variété d'outils d'analyse pour aider l'utilisateur dans la collecte et l'interprétation des données. Des caractéristiques telles que le programme d'indexation et d'identification aident à identifier le matériel à l'étude et à indexer correctement le diagramme des rayons X. Le raffinement de l'orientation peut aider à déterminer avec précision les paramètres de la structure cristalline, tandis qu'un programme d'adaptation des motifs peut aider à la comparaison des motifs. BRUKER-AXS D8 DISCOVER est conçu pour fournir des mesures rapides et répétables pour le contrôle de qualité de routine, ainsi que des analyses détaillées pour des applications de recherche et développement. Avec ses fonctionnalités avancées et sa flexibilité, le système fournit d'excellents résultats et peut aider à améliorer considérablement le processus de caractérisation.
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