Occasion BRUKER-AXS D8 Endeavor #293761278 à vendre en France

BRUKER-AXS D8 Endeavour est un appareil à rayons X haute performance conçu pour la recherche et l'analyse de matériaux avancés. Cet instrument de pointe intègre une technologie de pointe pour fournir aux chercheurs de puissantes capacités de caractérisation structurelle et d'analyse quantitative de phase. Le système est largement utilisé dans divers domaines scientifiques tels que la physique à l'état solide, la chimie, la science des matériaux, la géologie et les produits pharmaceutiques. Au cœur de D8 Endeavor se trouve une source de rayons X de haute puissance qui génère un rayonnement intense pour sonder la structure atomique des matériaux. L'unité utilise diverses techniques de génération de rayons X telles que le rayonnement Cu K α (1,5406 Å) ou le rayonnement Mo K α (0,7107 Å) pour répondre à différents types d'échantillons et exigences analytiques spécifiques. Cette flexibilité permet aux chercheurs d'adapter la longueur d'onde des rayons X à leurs applications spécifiques, permettant une analyse détaillée et précise d'un large éventail de matériaux. BRUKER-AXS D8 Endeavour est équipé d'un goniomètre de haute précision qui permet un positionnement et une rotation automatisés des échantillons avec une précision exceptionnelle. Ce contrôle précis de l'orientation des échantillons est essentiel pour recueillir des données de diffraction de haute qualité et obtenir des informations structurelles fiables. La machine dispose également de détecteurs avancés tels que des détecteurs de scintillation ou des détecteurs à l'état solide, qui sont capables de capturer des rayons X diffractés avec une grande efficacité et sensibilité. Une des principales capacités de D8 Endeavor est sa capacité à effectuer une analyse de diffraction des rayons X (XRD), une technique puissante pour déterminer la structure cristallographique des matériaux. En mesurant les angles et les intensités des rayons X diffractés, les chercheurs peuvent identifier les phases cristallines, déterminer les paramètres du réseau et caractériser les défauts cristallins dans un échantillon. L'outil offre une gamme de modes de balayage tels que les balayages continus, les balayages à pas et les balayages à bascule pour répondre à différentes exigences expérimentales. En plus de l'analyse XRD, BRUKER-AXS D8 Endeavor peut également effectuer la réflectométrie des rayons X, la diffraction des rayons X de l'incidence du pâturage (GIXRD) et l'analyse de la fluorescence des rayons X (XRF). Ces techniques fournissent des informations précieuses sur les structures de couches minces, les propriétés de surface, la composition élémentaire et l'épaisseur des couches dans les matériaux. La polyvalence et les capacités performantes de l'actif en font un outil indispensable pour un large éventail d'applications de recherche. D8 Endeavor est contrôlé par un logiciel convivial qui offre un fonctionnement intuitif, une visualisation des données et des outils d'analyse. Les chercheurs peuvent facilement configurer des expériences, ajuster des paramètres et analyser les résultats en quelques clics. Le logiciel permet également de traiter les données, de raccorder les pics, d'identifier les phases et de raffiner la structure cristalline, facilitant ainsi l'interprétation complète des données et l'établissement de rapports. En résumé, BRUKER-AXS D8 Endeavour est un modèle de radiographie sophistiqué qui offre des capacités avancées pour la recherche et l'analyse de matériaux. Avec sa source de rayons X haute puissance, son goniomètre précis, ses détecteurs avancés et ses techniques d'analyse polyvalentes, l'équipement permet aux chercheurs d'étudier les propriétés structurelles des matériaux avec une précision et une précision sans précédent. Qu'il s'agisse d'étudier les phases cristallines, les couches minces ou la composition élémentaire, D8 Endeavor fournit les outils et les performances nécessaires pour faire progresser les connaissances scientifiques et la découverte dans divers domaines.