Occasion BRUKER D4 Endeavor #9294642 à vendre en France

Fabricant
BRUKER
Modèle
D4 Endeavor
ID: 9294642
X-Ray Diffractometer (XRD) LynxEye Detector.
BRUKER D4 Endeavour est un équipement à haute performance de diffraction des rayons X (XRD) et de fluorescence des rayons X (XRF) conçu pour être utilisé dans les laboratoires de recherche. Le système offre la plus haute résolution, la plus grande sensibilité et le flux le plus élevé disponible pour les applications XRD et XRF. L'unité D4 Endeavour est construite sur une source de rayons X haute intensité, avec une plage de fonctionnement de 10 keV à 40 keV et un flux jusqu'à 200 W. Elle est alimentée par un générateur de puissance élevée et utilise une fente linéaire haute performance et un collimateur de rayons X pour fournir les images de rayons X les plus complètes et un accès direct à l'échantillon. En outre, la machine est conçue avec un outil d'imagerie de pointe pour la visualisation rapide des rayons X et un détecteur multicanal hautement sensible pour recueillir des spectres XRF. BRUKER D4 Endeavour propose également un certain nombre de solutions logicielles avancées pour les applications XRD et XRF. Il intègre un ensemble d'outils d'analyse puissants, qui comprennent des algorithmes de reconnaissance de motifs, de montage de crête et d'analyse élémentaire. Il utilise également de puissantes techniques de réduction des données pour garantir la résolution et la précision les plus élevées des mesures XRD et XRF. D4 Endeavour est également conçu avec des porte-échantillons complexes et des accessoires, tels qu'un porte-échantillons et des étages rotatifs pour les meilleures performances XRD et XRF. Cela garantit la plus grande précision et résolution des données pour les échantillons les plus difficiles. L'actif est facile à utiliser et compatible avec un large éventail de types d'échantillons et de tailles. Dans l'ensemble, BRUKER D4 Endeavour est un modèle XRD et XRF avancé et puissant adapté à une gamme d'applications de recherche. Il est conçu pour fournir la résolution la plus élevée et l'analyse la plus efficace des mesures des rayons X, permettant aux chercheurs d'interpréter les données avec précision et rapidité.
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