Occasion BRUKER D8 Advance #9212881 à vendre en France
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Vendu
ID: 9212881
Style Vintage: 2013
X-Ray diffractometer
To analyze thin layers (Thickness: 10 nm< >30 μm): LiCo O2 and other based Li materials
Protective enclosure with ergonomic access to experimental area
Cu X-ray tube
THETA Vertical goniometer to measure horizontal sample
Goniometer angular mode range: 0°-140°
Focusing and parallel beam geometry
Parameters measurement conditions and optics
Detect differences between parameters and required parameters in the recipe
Measure decoupled mode used in bragg brentano geometry
Detector used in 0-D mode
X,Y, Z Motorized sample stage managed with Z movement up to 25 mm
Optimized system for fast and accurate sample positioning with no limitation of angular range
Axial soller slits for intensity and peak profile optimization
Optics package for parallel beam with two secondary optics
Masks set to adjust the beam footprint in both geometry (Bragg brentano and parallel beam)
Sealed cell to perform X-ray diffraction in inert atmosphere
High resolution linear detector with high count rate
Energy discrimination and low background noise
For alignment system and parallel beam geometry
Fluorescence and Kbeta artifact suppression without secondary monochromator
Optimized acquisition time
Multi users access level: Operator and engineering mode
Integrated chiller system to ensure X-ray tube integrity
Includes:
Goniometer
Detectors
Tube type
Hours on tube
2013 vintage.
BRUKER D8 Advance est un équipement de haute performance de diffraction des rayons X (XRD) équipé de modules, accessoires et logiciels pour une large gamme d'applications avancées de diffraction des rayons X. Le système est conçu pour la caractérisation des matériaux. Il fonctionne en mode diffraction à trois cercles, ce qui le rend apte à analyser des échantillons cristallins et des matériaux non cristallins. L'unité comprend une source de rayons X, un ensemble détecteur, un porte-échantillon et un étage d'échantillonnage optiquement isotrope. La source de rayons X est conçue pour fournir des bandes passantes et des longueurs d'onde spécifiques pour des applications spécifiques. L'ensemble détecteur est configuré pour permettre la détection sensible des données de diffraction des rayons X dans la gamme des angles d'intérêt pour la caractérisation cristallographique. Le porte-échantillons comprend une large gamme de dispositifs pour contenir divers échantillons, y compris des monocristaux orientés, des échantillons de poudre et des cellules liquides. L'étage d'échantillonnage optiquement isotrope est un composant essentiel de la machine, permettant un positionnement précis de l'échantillon par rapport au faisceau de rayons X. L'outil est optimisé pour l'imagerie flexible et la collecte de données ab-initio d'une grande variété d'échantillons. D8 Advance est alimenté par une gamme d'applications logicielles qui permettent des contrôles avancés de tous les aspects de l'actif. Les applications logicielles fournissent à l'utilisateur de nombreux outils pour l'alignement des échantillons, l'acquisition de données, l'analyse de données, l'analyse de texture et la préparation d'échantillons. Le logiciel prend en charge l'intégration avec de nombreux autres outils d'acquisition et d'analyse de données, tels que les paquets 10x Detector +, Cell + et reconstruction 3D. BRUKER D8 Advance comprend des options d'étalonnage automatisé et d'échange rapide d'échantillons, ainsi qu'une large gamme de fonctions de post-traitement, telles que le montage de crête et la détermination de la taille des cristallites. D8 Advance offre des avantages importants par rapport aux autres systèmes XRD, notamment une excellente stabilité et précision de la collecte et de l'analyse des données dans des conditions variables. Il est également conçu pour être compact, facile à utiliser et extrêmement sensible. BRUKER D8 Advance est une solution idéale pour une large gamme d'applications XRD dans la recherche et les laboratoires industriels.
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