Occasion BRUKER D8 Fabline #293778020 à vendre en France

Fabricant
BRUKER
Modèle
D8 Fabline
ID: 293778020
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2015
X-Ray Diffractometer (XRD), 12" 2015 vintage.
BRUKER D8 Fabline est un équipement avancé de cristallisation en ligne pour la détermination des rayons X, utilisant des sources de rayonnement primaires et des détecteurs de haute précision. Grâce au système Fabline, les scientifiques peuvent maintenant cristalliser et caractériser un large éventail de composés pour l'analyse de la diffraction des rayons X. L'unité Fabline contient quatre composants principaux : un goniomètre, une source de rayons X, un détecteur et un porte-échantillon. Le goniomètre fournit un mouvement précis pour l'échantillon de cristal et permet une visualisation rapide et cohérente de la vitre cristalline à l'aide de la source de rayons X fournie. Le goniomètre est capable de déplacer le cristal à une vitesse maximale de 12,5 ° par seconde. La Fabline dispose également d'une source de rayons X, qui contient deux anodes différentes, à savoir le tungstène et le molybdène, fournissant une énergie cinétique de rayons X allant jusqu'à 100keV. Le détecteur est composé d'un détecteur à scintillation et d'une caméra CCD. Le détecteur de scintillation sert de dispositif primaire de détection des rayons X diffractés. La caméra CCD est équipée d'une plaque de fibre optique pour permettre l'acquisition de données radiographiques. Enfin, le porte-échantillon est conçu pour accueillir les petits et moyens plans cristallins. Il peut contenir des échantillons jusqu'à 20mm de diamètre et a une capacité de charge maximale de 25g. Le porte-échantillon comporte également un mécanisme de réglage des échantillons pour faciliter l'alignement des cristaux pendant le processus de cristallisation. Dans l'ensemble, la machine D8 Fabline offre un puissant outil de cristallisation et de caractérisation des rayons X aux scientifiques. Sa grande précision, son mouvement rapide et sa gamme polyvalente de composants en font l'outil parfait pour l'analyse de diffraction des rayons X.
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