Occasion BRUKER / ENRAF-NONIUS FR590 #9243923 à vendre en France

BRUKER/ENRAF-NONIUS FR590 est un équipement de diffraction des rayons X qui permet l'analyse et l'imagerie à haute résolution des matériaux cristallins. Il est conçu pour offrir aux utilisateurs un moyen précis et pratique d'étudier la structure et les propriétés des petites molécules, des macromolécules et même des nanoparticules. En fonctionnement, le rayonnement X est transmis à travers l'échantillon à mesurer. Selon le type d'échantillon, un seul détecteur ou plusieurs détecteurs peuvent être utilisés pour détecter les rayons X. Le système de détection est couplé à un logiciel avancé qui permet la collecte automatisée des données. Il a également la capacité de cibler des états spécifiques de l'énergie des rayons X, permettant un examen plus approfondi de l'échantillon. Les principaux composants de BRUKER FR590, mis à part la source de rayonnement et le détecteur, comprennent un goniomètre, une fente divergente et un analyseur. Le goniomètre est un dispositif qui contrôle l'angle d'incidence lors de la mesure de diffraction des rayons X. La fente divergente est une ouverture étroite par laquelle les rayons X doivent passer pour atteindre l'échantillon. L'analyseur est utilisé pour sélectionner des énergies de rayons X spécifiques à partir du détecteur. ENRAF-NONIUS FR590 offre un large éventail d'applications et de capacités. Il peut être utilisé dans la recherche sur les petites et grandes molécules, ainsi que dans l'étude des macromolécules, la diffusion de surface, le désordre dans les structures stratifiées, et plus encore. De plus, en utilisant la configuration à plusieurs détecteurs, l'unité peut résoudre différentes phases dans des échantillons complexes, ce qui permet d'évaluer avec précision la taille, la forme et la composition de chaque phase. La machine comprend également les dernières avancées dans le logiciel de collecte de données. Les routines logicielles automatisées permettent aux utilisateurs de recueillir, traiter, visualiser et analyser les données avec précision. De plus, le logiciel permet de personnaliser l'acquisition et l'analyse de données par échantillon, ce qui rend l'outil très adaptatif et flexible. FR590 est conçu pour fournir des résultats précis et fiables même pour les expériences les plus complexes. Ses capacités avancées de détection des rayons X et d'analyse de données ainsi qu'une suite d'outils logiciels puissants en font un choix idéal pour quiconque cherche à mieux comprendre la structure et les propriétés de ses échantillons.