Occasion BRUKER Hi-Star AXS D8 #66319 à vendre en France

BRUKER Hi-Star AXS D8 est un diffractomètre à rayons X haute performance utilisé pour l'analyse de haute précision des matériaux cristallins. L'équipement utilise la technique de diffraction totale des rayons X (TXRD) pour fournir des informations structurelles sur les propriétés moléculaires et atomiques d'un échantillon. Le AXS D8 est construit autour d'une source de rayons X à anode tournante qui fournit un flux élevé de rayonnement X. L'intensité élevée du faisceau de rayons X minimise les temps d'acquisition des données, tandis que la stabilité et la puissance permettent l'analyse dans des conditions environnementales défavorables sans perte de précision des données. Le système est en outre équipé d'un porte-échantillon à 360 degrés tournant qui permet l'acquisition de données 3D sans qu'il soit nécessaire de changer de position d'échantillon. L'unité de détection comprend un compteur de scintillation qui permet des mesures précises des rayons X à haute résolution angulaire, ainsi qu'un détecteur à l'état solide à haute sensibilité qui réduit le bruit de données et le besoin de soustraction de fond. La combinaison de ces composants fournit une caractérisation précise des échantillons tridimensionnels. En plus de fournir une analyse précise des données tridimensionnelles, l'AXS D8 est également capable d'effectuer des mesures à résolution temporelle, ainsi que l'acquisition de données à grande vitesse. La machine est capable de scanner plus de 10 000 pics/minute, permettant une acquisition et un traitement rapides des données. Le logiciel outil est conçu pour l'acquisition et le traitement efficaces des données, permettant à la fois la collecte manuelle et automatisée des données. Le logiciel fournit également l'affichage graphique de la sortie, avec des options d'affichage de données personnalisables pour l'analyse de données complexes. Le Hi-Star AXS D8 est un atout puissant et fiable en matière de diffraction des rayons X. Les composants de haute précision et les logiciels personnalisés permettent une analyse précise des données pour mieux comprendre les structures atomiques et moléculaires des échantillons. Le modèle offre également des vitesses rapides d'acquisition et de numérisation des données, ce qui en fait un excellent choix pour une variété d'applications de recherche.