Occasion BRUKER NANOSTAR #9235860 à vendre en France
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Vendu
ID: 9235860
Style Vintage: 2013
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) system
Non-destructive: Investigation of 3 dimensional structures
Part number:
7KP28028MA
862-063701
862-842800
862-829400
PM1000
Part number: C79298A3158B46
Plug-in slit, 6 mm
Part number: 862-062201
Fe55 Calibration source
Part number: P5000110
Set of ten built-in nano particle models:
Basic geometrical models (Spherical, spherical shell, ellipsoidal, cylindrical)
Selected polymer models (Flexible and semi-flexible chains, gaussian star, spherical block copolymer micelle)
Tabletop:
(2) Stable granite tablets
Tabletop dimension: 3540 x 950 mm
Collimation system:
Diameters and distances:
Pinhole 1: 750 μm
Pinhole 2: 400 μm
Pinhole 3: 1000 μm
Distance pinhole 1 - Pinhole 2: 925 mm
Distance pinhole 2 - Pinhole 3: 485 mm
Copper anode
Power: 45 kV at 0.65 mA
Integrated MONTEL optics:
Length: 60 mm
Output divergence: 1 mrad
Output beam dimension: 0.64 mm
Output flux: 2 x 10^7 cps
Radiation tight housing with be-entrance and exit window enabling evacuation
(4) Manual setting screws
XL Sample chamber:
2-Dimensional VANTEC-2000 detector with mounting base
Beam path tube of 400 mm length with mounting base
Beam stop frame with two beam stops of 4.31 mm and 3.15 mm diameter
VANTEC-2000 Detector
True photon counting X-ray detector
Wide energy range: 4 keV up to 12 keV
Active area: 140 mm x 140 mm
Usable wavelength range: Cr-Ka to Cu-Ka (Factory set for Cu-Ka)
Energy resolution: <25 %
Operational mode:
2048 x 2048
1024 x 1024 / 512 x 512 Channels
Pixel size: 68 μm x 68 μm
Spatial resolution: < 100 μm RMS
Maximum global count rate: 10^6 cps
Maximum local count rate: 3 x 10³ cps/pixel
Background noise: < 5.0 10^-4 cps/mm²
Operational gas: Xe-CO2
Operating conditions:
Temperature: 15°C - 30°C
Humidity: Up to 80 % RH
Frame buffer:
Dedicated frame buffer PC
With proprietary parallel detector interface
Mouse and keyboard
Capacity of disk drives and CD-RW, DVD-ROM, hard disk
RAM: State of the art
User selectable frame display
Real color display of data
Graphical evaluation of one-dimensional data sets:
Display and comparison of measured and simulated data
Simple, interactive evaluation of SAXS measurements
Wide selection of commonly used axis scaling
Automatic fitting:
Different refinement methods for automatic evaluation:
Levenberg-Marquardt
Online display of intermediate results (Text and graphic)
Particle size distribution and change of c2 cost function
2013 vintage.
BRUKER NANOSTAR est un équipement de radiographie développé par BRUKER, un leader mondial dans l'industrie des rayons X. Il est conçu pour l'analyse non destructive d'échantillons de recherche, industriels et aérospatiaux, fournissant des mesures à l'échelle nanométrique des structures internes et de surface. Le système NANOSTAR utilise une combinaison unique de sources de rayons X et de composants de détection, lui permettant d'acquérir 500 images de résolution nanométrique même dans des environnements d'imagerie à faible dose. La source de rayons X est un faisceau de cobalt 60 très focalisé qui est dirigé précisément sur l'échantillon, tout en évitant d'autres composants de l'unité. Cette fonctionnalité garantit une excellente imagerie d'échantillons et la capacité d'acquérir des images détaillées avec la dose correcte. La machine BRUKER NANOSTAR dispose également de capacités avancées de collecte de données, de traitement d'images et d'analyse. Les données peuvent être acquises et stockées sous plusieurs formats, ce qui permet une analyse rapide des données. Des outils de traitement d'image peuvent être utilisés pour améliorer la résolution et le contraste, permettant à l'utilisateur d'examiner efficacement les caractéristiques à l'échelle du nanomètre. De plus, des outils d'analyse intégrés peuvent être utilisés pour mesurer la forme, la taille, la porosité et d'autres propriétés de l'échantillon. NANOSTAR X-ray outil est un outil puissant pour l'analyse non destructive d'une variété d'échantillons de recherche, industriels et aérospatiaux. L'imagerie haute résolution et les puissantes capacités de traitement des données permettent d'effectuer des inspections et des analyses détaillées de structures d'échantillons complexes de manière peu invasive. Avec sa combinaison unique de sources de rayons X et de composants de détection, BRUKER NANOSTAR est un chef de file dans l'industrie de l'analyse non destructive des rayons X.
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