Occasion CAMECA TXRF 8300 #9224127 à vendre en France
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Vendu
ID: 9224127
Style Vintage: 2007
System
Specimen chamber and wafer handling:
Mini environment, class 1
Automatic centering and flat / Notch identification
Automatic thickness variation compensation
Automatic angle adjustment
Independent from wafer bow or wedge
Polar orientation independent of analyzed area
X, Y, Z, Θ, Φ Wafer stage
No vacuum chamber
Organic chuck material
Vacuum chucking during wafer displacement
X-Ray system with:
Motorized curved double multi layer monochromator
Measurement of elemental impurities on Si-wafers
Simultaneous measurement of >60 elements between Al and U
Detection limits: < 5 x 109 atoms / cm² (e.g. for Ni)
Angle adjustment of wafers to optimize signal / Background ratio
Medium frequency x-ray generator, max. 3.5 kW
High power fine-focus tubes
System prepared for W and Mo tubes
Sealed anode system
Lifetime: 2,000 Hours
SiLi Detector:
With crystal: 80 mm²
Effective sampling area: 70 mm²
Energy resolution better: 150 eV
Selectable time constants for variable resolution
Digital detector electronics
Digital pulse processing
4096 Channels ADC for spectrum analysis
Pile-up rejector
Escape peak subtraction
Standard calibration wafer
Standard droplet
Ni: 1ng
Computer control system:
PC With 256 MB RAM
FDD: 1.4 MB
CD Burner
HDD: 100 GB
TFT Monitor, 17”
16 MB Monitor adapter with hardware acceleration
Ethernet card: 10 / 100 MB
Operating system: Windows NT
Color ink printer
Graphical User Interface (GUI)
Easy set-up of measurement sequences
Break function for introduction of emergency measurements
Automatic optimization of filter setup
Individual selection of analyzing parameters
Automatic search routine for VPD droplets
E-Diagnostics and remote servicing
Fab automation
GEM SECS
Modem included
Cassette stations:
(2) Cassette stations, 6"-12"
Front and side port
Mix and match operation
Different wafer sizes in an automatic run
Clean room compatible cassette operation
X-Ray tubes:
W-Tube: 3000 W
Excitation energy: Wlb: 9.67 keV / Wla: 8.40 keV
Typically used for elements between Al - Zn and Nb - Ta
Chiller: Separate water / Air or water / Water chiller
Detector:
Model no: 7163
Resolution: 150
Detector HV bias: -500 V
Cryostat:
Capacity: 7.5 Liters
Consumption rate: <1 Liter / day
Pre-amplifier:
Type: OXFORD
Sensitivity gain: 1.6 mV / keV
FET Configuration:
Substrate voltage: -16.9 V
Heater voltage: 4.5 V
Spare parts included:
PLANAR / Multi layer block standard
Translink PCI card
Limit switch for DMT 100/65
Digital vacuum switch / Sensor
OXFORD / ISIS 300 DXP 50 Detector
Digimic for assembly 5001 u 5002.00.00 hub: 10 mm
M-521.2S Linear
Turntable DMT 100 mit motor PK244-02B
MY-COM / C30/200 Precision switches
DETECTOR ELECTRONIC / 5885/7163 Without translink card
OMRON / Micro switch DSF
OMRON / MY-COM Switch
Wafer dish / Mess chuck
2007 vintage.
CAMECA TXRF 8300 est un appareil de fluorescence aux rayons X (XRF) parfait pour la caractérisation des oligo-éléments. La technique de spectrométrie de fluorescence X utilise un faisceau de rayons X pour exciter l'échantillon cible dans une émission de rayons X caractéristiques qui sont ensuite mesurés pour déterminer la composition en éléments de l'échantillon. Cette technique est idéale dans de nombreuses situations où une analyse non destructive et spécifique aux éléments est nécessaire. TXRF 8300 combine la spectrométrie de fluorescence aux rayons X avec des capacités avancées de préparation d'échantillons, permettant aux chercheurs et aux techniciens de répondre à leurs besoins spécifiques de mesure élémentaire. Le système comprend un générateur de rayons X de grande puissance optimisé avec des capacités intégrées de préparation d'échantillons, ce dernier étant la clé pour obtenir des performances analytiques supérieures. L'unité combinée offre une précision et une précision inégalées pour des concentrations élémentaires allant de ppm à des pourcentages élevés. Les accessoires de préparation d'échantillons, tels que le Kit d'échantillons de matériaux difficiles (DMSK), permettent d'analyser la matrice d'échantillons difficile et d'éliminer l'exigence d'un prétriage fastidieux des échantillons. Le logiciel dédié, xSort, comprend les capacités nécessaires pour organiser et optimiser les expériences XRF. Le logiciel xSort permet de rationaliser le processus d'acquisition des données, de sélectionner automatiquement les paramètres de mesure optimaux, puis de sauvegarder les paramètres de mesure pour une référence future. Parmi les nombreuses caractéristiques de CAMECA TXRF 8300 est sa capacité à caractériser pour de nombreux éléments dans une seule mesure. Ceci est possible en raison de la très petite taille de faisceau que l'instrument offre. Le plus petit diamètre de poutre disponible de la machine est 120 μ m, ce qui est bien adapté pour des analyses détaillées de surface. Enfin, le menu de services préconfigurés des paramètres de mesure est conçu pour permettre aux scientifiques et aux techniciens d'analyser une variété d'échantillons avec le plus haut degré de précision et d'efficacité. TXRF 8300 utilise des techniques d'alignement automatisé et des logiciels intelligents pour positionner précisément l'échantillon sur la scène sans intervention manuelle. En résumé, CAMECA TXRF 8300 est l'outil parfait pour la caractérisation des oligo-éléments et la spectrométrie de fluorescence X en raison de sa capacité à fournir une précision et une précision inégalées. Avec ses capacités intégrées de préparation d'échantillons, sa petite taille de faisceau de rayons X, son alignement automatisé et ses logiciels, l'atout est un excellent outil pour les scientifiques et les techniciens.
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