Occasion CAMECA TXRF 8300 #9224127 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

Fabricant
CAMECA
Modèle
TXRF 8300
ID: 9224127
Style Vintage: 2007
System Specimen chamber and wafer handling: Mini environment, class 1 Automatic centering and flat / Notch identification Automatic thickness variation compensation Automatic angle adjustment Independent from wafer bow or wedge Polar orientation independent of analyzed area X, Y, Z, Θ, Φ Wafer stage No vacuum chamber Organic chuck material Vacuum chucking during wafer displacement X-Ray system with: Motorized curved double multi layer monochromator Measurement of elemental impurities on Si-wafers Simultaneous measurement of >60 elements between Al and U Detection limits: < 5 x 109 atoms / cm² (e.g. for Ni) Angle adjustment of wafers to optimize signal / Background ratio Medium frequency x-ray generator, max. 3.5 kW High power fine-focus tubes System prepared for W and Mo tubes Sealed anode system Lifetime: 2,000 Hours SiLi Detector: With crystal: 80 mm² Effective sampling area: 70 mm² Energy resolution better: 150 eV Selectable time constants for variable resolution Digital detector electronics Digital pulse processing 4096 Channels ADC for spectrum analysis Pile-up rejector Escape peak subtraction Standard calibration wafer Standard droplet Ni: 1ng Computer control system: PC With 256 MB RAM FDD: 1.4 MB CD Burner HDD: 100 GB TFT Monitor, 17” 16 MB Monitor adapter with hardware acceleration Ethernet card: 10 / 100 MB Operating system: Windows NT Color ink printer Graphical User Interface (GUI) Easy set-up of measurement sequences Break function for introduction of emergency measurements Automatic optimization of filter setup Individual selection of analyzing parameters Automatic search routine for VPD droplets E-Diagnostics and remote servicing Fab automation GEM SECS Modem included Cassette stations: (2) Cassette stations, 6"-12" Front and side port Mix and match operation Different wafer sizes in an automatic run Clean room compatible cassette operation X-Ray tubes: W-Tube: 3000 W Excitation energy: Wlb: 9.67 keV / Wla: 8.40 keV Typically used for elements between Al - Zn and Nb - Ta Chiller: Separate water / Air or water / Water chiller Detector: Model no: 7163 Resolution: 150 Detector HV bias: -500 V Cryostat: Capacity: 7.5 Liters Consumption rate: <1 Liter / day Pre-amplifier: Type: OXFORD Sensitivity gain: 1.6 mV / keV FET Configuration: Substrate voltage: -16.9 V Heater voltage: 4.5 V Spare parts included: PLANAR / Multi layer block standard Translink PCI card Limit switch for DMT 100/65 Digital vacuum switch / Sensor OXFORD / ISIS 300 DXP 50 Detector Digimic for assembly 5001 u 5002.00.00 hub: 10 mm M-521.2S Linear Turntable DMT 100 mit motor PK244-02B MY-COM / C30/200 Precision switches DETECTOR ELECTRONIC / 5885/7163 Without translink card OMRON / Micro switch DSF OMRON / MY-COM Switch Wafer dish / Mess chuck 2007 vintage.
CAMECA TXRF 8300 est un appareil de fluorescence aux rayons X (XRF) parfait pour la caractérisation des oligo-éléments. La technique de spectrométrie de fluorescence X utilise un faisceau de rayons X pour exciter l'échantillon cible dans une émission de rayons X caractéristiques qui sont ensuite mesurés pour déterminer la composition en éléments de l'échantillon. Cette technique est idéale dans de nombreuses situations où une analyse non destructive et spécifique aux éléments est nécessaire. TXRF 8300 combine la spectrométrie de fluorescence aux rayons X avec des capacités avancées de préparation d'échantillons, permettant aux chercheurs et aux techniciens de répondre à leurs besoins spécifiques de mesure élémentaire. Le système comprend un générateur de rayons X de grande puissance optimisé avec des capacités intégrées de préparation d'échantillons, ce dernier étant la clé pour obtenir des performances analytiques supérieures. L'unité combinée offre une précision et une précision inégalées pour des concentrations élémentaires allant de ppm à des pourcentages élevés. Les accessoires de préparation d'échantillons, tels que le Kit d'échantillons de matériaux difficiles (DMSK), permettent d'analyser la matrice d'échantillons difficile et d'éliminer l'exigence d'un prétriage fastidieux des échantillons. Le logiciel dédié, xSort, comprend les capacités nécessaires pour organiser et optimiser les expériences XRF. Le logiciel xSort permet de rationaliser le processus d'acquisition des données, de sélectionner automatiquement les paramètres de mesure optimaux, puis de sauvegarder les paramètres de mesure pour une référence future. Parmi les nombreuses caractéristiques de CAMECA TXRF 8300 est sa capacité à caractériser pour de nombreux éléments dans une seule mesure. Ceci est possible en raison de la très petite taille de faisceau que l'instrument offre. Le plus petit diamètre de poutre disponible de la machine est 120 μ m, ce qui est bien adapté pour des analyses détaillées de surface. Enfin, le menu de services préconfigurés des paramètres de mesure est conçu pour permettre aux scientifiques et aux techniciens d'analyser une variété d'échantillons avec le plus haut degré de précision et d'efficacité. TXRF 8300 utilise des techniques d'alignement automatisé et des logiciels intelligents pour positionner précisément l'échantillon sur la scène sans intervention manuelle. En résumé, CAMECA TXRF 8300 est l'outil parfait pour la caractérisation des oligo-éléments et la spectrométrie de fluorescence X en raison de sa capacité à fournir une précision et une précision inégalées. Avec ses capacités intégrées de préparation d'échantillons, sa petite taille de faisceau de rayons X, son alignement automatisé et ses logiciels, l'atout est un excellent outil pour les scientifiques et les techniciens.
Il n'y a pas encore de critiques