Occasion FISHER SCIENTIFIC XDL #9359052 à vendre en France

FISHER SCIENTIFIC XDL est un équipement avancé de diffraction des rayons X conçu pour l'analyse haute résolution d'une gamme de matériaux. Il se compose d'un monochromateur, d'une chambre pilotée par ordinateur et d'un détecteur. Le monochromateur est réglable et permet de choisir des longueurs d'onde spécifiques pour l'analyse. La chambre pilotée par ordinateur assure des conditions environnementales optimales pour la préparation et l'analyse des échantillons. Le détecteur est utilisé pour mesurer le diagramme de diffraction des rayons X résultant du rayonnement réfléchi. Le composant principal de XDL est le tube à rayons X. Il s'agit d'un tube étanche évacué contenant une anode et un filament. Lorsqu'une tension est appliquée sur l'anode, les électrons sont émis du filament et accélérés vers l'anode. Lorsque les électrons entrent en collision avec l'anode, ils libèrent des rayons X qui sont ensuite dirigés avec soin vers l'échantillon. Ce rayonnement X est ensuite diffracté par l'échantillon avant d'en être réfléchi. Ce rayonnement diffracté est détecté et mesuré par le détecteur. Le système comprend également un porte-échantillon et une unité de collimation. Le porte-échantillon permet un positionnement précis de l'échantillon avant analyse. La machine de collimation réduit le rayonnement de fond et assure que seuls les rayons X de la longueur d'onde choisie sont utilisés pour l'analyse. Cela est important pour garantir des résultats exacts. L'outil comporte également une unité de rotation de l'échantillon, permettant de faire tourner l'échantillon par paliers de 0,1 degré. Ceci permet d'orienter correctement l'échantillon pour l'analyse de diffraction des rayons X et permet d'étudier tous les plans dans une structure cristalline. Le logiciel d'actifs comprend une gamme de fonctionnalités, y compris une interface graphique conviviale, l'enregistrement de données et une bibliothèque de paramètres d'échantillons prédéfinis. FISHER SCIENTIFIC XDL est capable de fournir une diffraction des rayons X haute résolution avec sensibilité et précision permettant l'identification et l'analyse d'une gamme de matériaux. Il convient donc à la fois à la recherche et aux applications au niveau de l'industrie. En résumé, XDL est un modèle de diffraction des rayons X très avancé, permettant une analyse rapide et précise des échantillons.