Occasion FISHER SCIENTIFIC XDLM #9378146 à vendre en France

FISHER SCIENTIFIC XDLM
Fabricant
FISHER SCIENTIFIC
Modèle
XDLM
ID: 9378146
X-Ray coating thickness measurement system.
FISHER SCIENTIFIC XDLM est un appareil de diffraction des rayons X et de diffusion des petits angles conçu pour fournir des mesures des rayons X à haute performance, fiables et économes en énergie. Le système est une unité complète intégrant des capacités d'analyse spectrale bidimensionnelle, de traitement avancé du signal et de gestion des données. La machine utilise un outil informatique haute performance avec un logiciel d'analyse d'image bidimensionnelle pour fournir des mesures analytiques précises de la diffraction des rayons X à faible angle et de la diffusion des petits angles. La spectroscopie est basée sur un atout optique fiable utilisant une forme cristalline optimisée d'un modèle monocristallin, qui est utilisé pour améliorer l'efficacité spectrale et la résolution des données. L'équipement comprend également l'acquisition et le stockage de données dans des formats analogiques et numériques, offrant souplesse et facilité d'utilisation. Pour les mesures d'échantillons, XDLM utilise une source de rayons X de haute intensité couplée à un monochromateur pour la caractérisation spectrale et à un détecteur pour des mesures précises. Le détecteur est conçu avec un taux de détection amélioré pour fournir des mesures précises et la collecte de données. Le système intègre également des techniques avancées de traitement du signal pour réduire le niveau de bruit et optimiser le rapport signal sur bruit. Outre la source de rayons X, le monochromateur et le détecteur, FISHER SCIENTIFIC XDLM peut être interfacé avec une unité intégrée d'optique, de logiciel et d'un compresseur capable de fournir des sources de gaz purifiées et scellées sous vide de manière sûre. Le compresseur fournit une machine à débit à pression variable tandis que le logiciel est capable de contrôler une large gamme de paramètres de rayons X. Pour l'acquisition et l'analyse de données, XDLM fournit un outil puissant pour l'acquisition et l'analyse de données en temps réel. L'actif comporte l'identification automatisée des particules, le suivi et l'intégration des données, ce qui en fait un modèle d'acquisition de données flexible et convivial. L'équipement est également capable d'enregistrer et d'analyser des données provenant de sources multiples, permettant un fonctionnement et une analyse simultanés. Outre les capacités d'acquisition et de traitement des données, FISHER SCIENTIFIC XDLM fournit une suite complète de logiciels permettant l'analyse des données. Cela comprend des fonctionnalités pour l'interprétation des données, l'automatisation et la visualisation des résultats. En outre, il offre une variété de caractéristiques d'analyse des données, y compris l'estimation des paramètres, l'analyse de régression linéaire et non linéaire, et l'analyse des erreurs. En conclusion, XDLM est un système de rayons X robuste et fiable conçu pour la diffraction précise et l'analyse de la diffusion de petits angles. Il dispose de capacités avancées de traitement de signal et d'analyse de données, ainsi que d'un large éventail de fonctionnalités pour l'acquisition, le traitement, la visualisation et l'analyse de données. L'unité fournit une excellente qualité et précision des résultats et en fait un instrument essentiel pour tout laboratoire.
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