Occasion HELMUT FISCHER / FISCHERSCOPE XDLM 237 #293642982 à vendre en France

HELMUT FISCHER/FISCHERSCOPE XLM 237 est un équipement d'analyse de structure à haute résolution conçu pour mesurer la structure et la composition des échantillons non conducteurs à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X. Il offre un fonctionnement flexible, permettant de prendre en compte un large éventail de géométries d'échantillons et d'analyser les données de manière indépendante. Le système est composé d'une source génératrice de rayons X, d'une unité de collimation par faisceau de diffraction, d'un porte-échantillon, d'un ensemble de détecteurs de rayons X détaillés et d'une machine informatique pour contrôler l'ensemble de l'outil. La source de rayons X produit un faisceau de rayons X avec une plage d'énergie bien définie, ce qui lui permet d'être focalisé sur l'échantillon par les fentes divergentes qui créent son collier de faisceau. Le porte-échantillon fournit une plate-forme stable pour l'échantillon. Il dispose d'une inclinaison et d'une rotation réglables pour permettre aux utilisateurs de régler l'angle incident du faisceau de rayons X afin d'assurer une efficacité maximale dans la méthode de diffraction des rayons X. L'échantillon est déplacé à travers le faisceau de rayons X tandis que son angle varie lentement. En analysant la dépendance angulaire de l'intensité du rayonnement X diffusé par l'échantillon, on peut déterminer la structure et la composition de l'échantillon. L'ensemble détecteur présente plusieurs avantages, dont une puissance de résolution élevée et une linéarité quasi parfaite. L'actif à haute résolution utilise un tableau de compteurs de scintillation pour diviser l'échantillon en un certain nombre de détecteurs de scintillation surveillés ponctuels individuels. Les détecteurs sont disposés en cercle de manière à détecter avec précision tout angle de diffusion compris entre 0 ° et 180 °. La linéarité du détecteur assure des résultats précis même lors de l'analyse d'échantillons de faible densité. Le modèle informatique contrôle l'ensemble de l'équipement et fournit une interface graphique intégrée pour l'utilisateur. Il permet à l'utilisateur de définir les paramètres de l'expérience, de contrôler la source de rayons X, de surveiller la position de l'échantillon et la collecte des données, d'analyser les données et de générer des images. Le logiciel fournit également un certain nombre d'outils logiciels pour faciliter l'analyse des données, la visualisation et la production d'images. En conclusion, FISCHERSCOPE XLM 237 est un système de diffraction des rayons X à haute résolution, efficace et polyvalent qui peut analyser rapidement une grande variété d'échantillons sans exiger de l'opérateur une grande connaissance de la technologie sous-jacente. L'environnement logiciel intégré et l'interface visuelle facile à utiliser rendent cette unité parfaite pour l'analyse des structures, fournissant des résultats précis et un retournement rapide.