Occasion HITACHI / OXFORD X-Strata 920 #293755846 à vendre en France

ID: 293755846
Style Vintage: 2014
XRF Analyzer Prop counter K-Beta filter Spectrum calibration X-Ray tube non-functional PC 2014 vintage.
HITACHI/OXFORD X-Strata 920 est un équipement avancé de mesure de l'épaisseur de revêtement à fluorescence X (XRF) qui offre une analyse de haute précision pour un large éventail d'applications. Cet instrument de pointe allie l'expertise d'OXFORD en instrumentation analytique et la réputation d'HITACHI Instruments en matière de technologie XRF de haute qualité pour offrir une solution puissante de mesure de l'épaisseur et de la composition des revêtements. OXFORD X-Strata 920 utilise l'excitation des rayons X pour analyser la composition élémentaire et l'épaisseur des revêtements sur différents substrats. Cette technique non destructive est très efficace et donne des résultats précis sans endommager l'échantillon. Le système est équipé d'un tube à rayons X de grande puissance et d'un détecteur sensible capable de détecter les oligo-éléments et de mesurer les couches minces avec une précision exceptionnelle. Une des caractéristiques clés de HITACHI X-Strata 920 est sa polyvalence. L'unité peut analyser un large éventail de types d'échantillons, y compris les alliages métalliques, les films plastiques, les revêtements électrodéposés et les structures multicouches. Cette flexibilité en fait un outil précieux pour des industries telles que l'électronique, l'automobile, l'aérospatiale et la finition métallique, où des mesures précises de l'épaisseur du revêtement sont essentielles pour le contrôle de la qualité et l'optimisation des procédés. Le X-Strata 920 est facile à utiliser grâce à son interface logicielle intuitive et à ses routines de mesure automatisées. Les opérateurs peuvent rapidement configurer l'instrument, l'étalonner à l'aide de normes de référence certifiées et commencer à analyser les échantillons avec une formation minimale. La machine peut stocker des données de mesure pour référence future et générer des rapports détaillés qui sont conformes aux normes et règlements de l'industrie. En termes de performance, HITACHI/OXFORD X-Strata 920 excelle en fournissant des résultats précis et reproductibles. Les algorithmes avancés de l'outil garantissent que les mesures sont précises, même pour les couches minces et les structures complexes. Il offre également une excellente sensibilité, permettant la détection d'éléments jusqu'à des niveaux de pièces par million. OXFORD X-Strata 920 est livré avec une gamme d'accessoires et de fonctionnalités en option pour améliorer sa fonctionnalité. Il s'agit notamment d'options pour le traitement automatisé des échantillons, la surveillance en temps réel des processus de revêtement et l'intégration à des plates-formes logicielles standard de l'industrie pour l'analyse et la déclaration des données. L'actif peut également être personnalisé pour répondre aux besoins et aux applications spécifiques des utilisateurs, ce qui en fait une solution polyvalente pour une variété de besoins de mesure d'épaisseur de revêtement. Dans l'ensemble, HITACHI X-Strata 920 est un modèle de radiographie de pointe qui offre des performances exceptionnelles, une facilité d'utilisation et une polyvalence pour les applications de mesure d'épaisseur de revêtement. Sa combinaison de technologies de pointe, de capacités de mesure de précision et de conception conviviale en fait un outil précieux pour les industries qui exigent une analyse précise et fiable de l'épaisseur et de la composition du revêtement.
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